【摘要】 本发明公开了用于测定梨的多指标参数的装置，包括：暗箱；位于所述暗箱内，用于测量梨的重量的电子称重旋转平台；位于所述暗箱内，用于测量梨的高度的高度测量装置；用于向梨发射检测光的光照模块；用于接收梨的反射光的光谱采集模块；用于接收所述电子称重旋转平台和高度测量装置的信号计算样品体积，以及用于接收所述光谱采集单元信号计算样品硬度的控制单元。本发明还公开了一种利用所述的梨的多指标参数测定装置测定梨的多指标参数的方法。本发明实现了梨的重量、高度、体积以及硬度的多项物理参数的快速检测，检测快速准确，检测成本低，环境污染小。 【专利类型】发明授权 【申请人】浙江大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】西湖区 【申请号】CN201210286723.3 【申请日】2012-08-13 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102788754B 【公开公告日】2014-08-06 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102788754B 【授权公告日】2014-08-06 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01N21/25; G01G17/00; G01B21/02; G01F17/00 【发明人】何勇; 章海亮 【主权项内容】一种利用测定梨的多指标参数的装置测定梨的多指标参数的方法，其特征在于，所述测定梨的多指标参数的装置包括：暗箱；位于所述暗箱内，用于测量梨的重量的电子称重旋转平台；位于所述暗箱内，用于测量梨的高度的高度测量装置；用于向梨发射检测光的光照模块；用于接收梨的反射光的光谱采集模块；用于接收所述电子称重旋转平台和高度测量装置的信号计算样品体积，以及用于接收所述光谱采集模块信号计算样品硬度的控制单元；所述光照模块包括在光路上依次布置的LED点光源阵列、反射盖、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜以及输出光纤，所述LED点光源阵列包括480nm、500nm、600nm、650nm、700nm、850nm、900nm、950nm、1155nm、1400nm、1467nm和1759nm的LED点光源各一盏，所有LED点光源呈圆环形排列且均匀分布；所述测定梨的多指标参数的方法，包括以下步骤：(1)将梨放入所述暗箱中，利用所述电子称重旋转平台测定梨的重量G，利用所述高度测量装置测量高度H；(2)将梨的重量G和高度H信息输入控制单元，控制单元依据公式V=0.218*G+0.123*H-8.8，计算得到梨的体积V；(3)沿着梨的赤道部位确定至少两个检测点，所述光照模块向该两个检测点发送检测光，利用光谱采集模块采集每个检测点处在波长为480nm、500nm、600nm、650nm、700nm、850nm、900nm、950nm、1155nm、1400nm、1467nm和1759nm所对应的梨的反射率；(4)将所得反射率输入控制单元，控制单元依据多元线性回归方程：Y=133.611X1-39.762X2-94.374X3-62.545X4+204.408X5-411.368X6+554.071X7-194.192X8-158.072X9+149.384X10-365.744X11+282.136X12+4.2，计算得到梨的硬度；式中Y为梨中硬度；X1～X12分别为波长480nm、500nm、600nm、650nm、700nm、850nm、900nm、950nm、1155nm、1400nm、1467nm和1759nm所对应的梨的反射率。 【当前权利人】浙江大学 【当前专利权人地址】浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000470095016Q 【引证次数】7.0 【自引次数】2.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】1

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