【摘要】本发明涉及一种MEMS扫描探头,包括基座(1)、光纤(2)、透镜(3)、柔性双金属结构(8)、微镜底座(7)、以及设置在微镜底座(7)下表面的MEMS微镜(4),各个部件按照本发明的设计要求相互进行连接,其中,微镜底座(7)下表面上
【摘要】 本发明涉及一种丝网张力计的校准方法,模拟将丝网张力计放置在丝网上,改变及测量丝网张力计下沉压块与丝网张力计两侧压线的高度差(Δh),同时测量丝网张力计下沉压块作用在丝网上的压力(f),再结合丝网张力计的参数和丝网延伸强度(k),通过运算获得丝网未受下沉压块作用力拉伸时的张力(P'),进而获得丝网未放置丝网张力计时的张力;将丝网张力计的示值与丝网未放置丝网张力计时的张力进行比较,实现丝网张力计的校准。 【专利类型】发明授权 【申请人】无锡市计量测试中心 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】214101 江苏省无锡市春新东路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】锡山区 【申请号】CN201210143599.5 【申请日】2012-05-10 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102673107B 【公开公告日】2014-04-16 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102673107B 【授权公告日】2014-04-16 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】B41F15/34; B41F33/00 【发明人】杨晓伟; 王道垣; 胡建栋; 费明辉; 王旭辉; 童云飞; 王国民; 李家乐; 章晓明 【主权项内容】1. 一种丝网张力计的校准方法,其特征在于:模拟将丝网张力计放置在丝网上,改变及测量丝网张力计下沉压块与丝网张力计两侧压线的高度差Δh,同时测量丝网张力计下沉压块作用在丝网上的压力f,再结合丝网张力计的参数和丝网延伸强度k,通过运算获得丝网未受下沉压块作用力拉伸时的张力P',进而获得丝网未放置丝网张力计时的张力 ;将丝网张力计的示值与丝网未放置丝网张力计时的张力进行比较,实现丝网张力计的校准;丝网未受下沉压块作用力拉伸时的张力P'通过以下方法获得:式中,Δh为丝网张力计下沉压块与丝网张力计两侧压线的高度差,f为丝网张力计下沉压块作用在丝网上的压力,R为丝网张力计下沉压块半径,R'为经修正后的丝网张力计下沉压块半径R,r为丝网张力计下沉压块边缘半径,a为丝网张力计下沉压块长度,b为丝网张力计两侧压线的长度,c为丝网张力计两侧压线之间距离的一半,k为丝网延伸强度, P'为丝网未受下沉压块作用力拉伸时的张力;基于上述公式,通过逐次逼近法求得丝网未受下沉压块作用力拉伸时的张力P'; 丝网未放置丝网张力计时的张力通过如下公式获得:式中,P'为丝网未受下沉压块作用力拉伸时的张力,k为丝网延伸强度,m为丝网张力计的质量,c为丝网张力计两侧压线之间距离的一半,b为丝网张力计两侧压线的长度,f为丝网张力计下沉压块作用在丝网上的压力。 【当前权利人】无锡市计量测试中心 【当前专利权人地址】江苏省无锡市春新东路8号 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】2
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