【摘要】本发明公开了一种采用方光斑刻蚀双面ITO玻璃的刻蚀装置,可以将激光束能量分布的模式由高斯模式转换为等功率分布,整形后的光束所照可以将照射部位薄膜均匀去除,即去除薄膜厚度一致。本发明公开的刻蚀装置包括支撑机构和等功率分布整形光路机构,
【摘要】 本发明公开了一种半自动真空测试治具,包括支架、上模组件、下模组件和测试底盒;测试底盒与支架固定,在测试底盒内设置有测试电路,且测试电路与测试启动按钮之间电路连接;下模组件包括下模和微调板,下模上设置有放置测试产品的型腔,下模通过微调板固定在测试底盒的上侧面;上模组件包括上模、压缩板和气缸,气缸的缸体固定在支架上,其输出轴垂直朝向下模并与压缩板固定,上模固定在压缩板朝向下模的一侧;当气缸驱动上模下行到位时,上模和下模密封贴合形成密封室,并且压缩板触动测试启动按钮启动测试电路。本发明提供的半自动真空测试治具,将测试产品放置在下模内,并通过上模组件的移动启动测试电路,操作简单、测试稳定。 【专利类型】发明授权 【申请人】昆山迈致治具科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇马鞍山中路民新路155号 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】昆山市 【申请号】CN201210227369.7 【申请日】2012-07-03 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102735402B 【公开公告日】2014-12-24 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102735402B 【授权公告日】2014-12-24 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01M3/02 【发明人】吉尧明 【主权项内容】半自动真空测试治具,其特征在于:该测试治具包括支架(2)、上模组件、下模组件、直线运动定向机构和测试底盒(7);所述测试底盒(7)与支架固定,在测试底盒(7)内设置有测试电路,在测试底盒(7)的上侧面设置有常开的测试启动按钮(12)和位于测试启动按钮(12)外侧的按钮保护块(10),且测试电路与测试启动按钮(12)之间电路连接;所述下模组件包括下模(5)和微调板(6),所述下模(5)上设置有放置测试产品的型腔,在型腔内设置有测试端子,下模(5)通过微调板(6)固定在测试底盒(7)的上侧面,且测试端子与测试电路之间电路连接;所述上模组件包括上模(8)、压缩板(3)和气缸(1),所述气缸(1)的缸体固定在支架(2)上,其输出轴垂直朝向下模(5)并与压缩板(3)固定,上模(8)固定在压缩板(3)朝向下模(5)的一侧;所述直线运动定向机构包括配套的滑轨(4)和滑块,所述滑轨(4)垂直于下模方向与支架(2)固定,所述滑块与压缩板(3)固定;当气缸(1)驱动上模(8)下行到位时,上模(8)和下模(5)密封贴合形成密封室,并且压缩板(3)触动测试启动按钮(12)启动测试电路。 【当前权利人】昆山迈致治具科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市昆山市玉山镇马鞍山中路民新路155号 【专利权人类型】有限责任公司 【统一社会信用代码】913205836858516675 【引证次数】7.0 【自引次数】1.0 【他引次数】6.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】3
未经允许不得转载:http://www.zhongzhencnc.com/1790780421.html






