【摘要】 本发明公开了一种基于正则化条件的代数B-样条曲线的光栅化方法，包括步骤：输入待绘制的代数B-条样曲线及其相关信息；将该曲线分片处理，转化为分段代数Bézier曲线；根据屏幕空间参数，确定需显示的曲线段；对需显示的曲线段，以细分的方式剖分该曲线段所对应的区域，得到每个子区域曲线的控制系数；检测每个子区域是否满足正则条件；对满足正则条件或虽不满足正则条件但区域面积小于一个像素的子区域，绘制该子区域的曲线并在屏幕显示。本发明可以将曲线界定至简单区域中，进行像素精度求精；可以将特征点逐步求精至像素精度，避免了时间空间复杂度很高的特征点计算；还实现了具有复杂拓扑的代数B-样条曲线的实时光栅化绘制。 【专利类型】发明授权 【申请人】浙江大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】西湖区 【申请号】CN201210097403.3 【申请日】2012-04-01 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102663184B 【公开公告日】2014-05-14 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102663184B 【授权公告日】2014-05-14 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G06F17/50 【发明人】冯结青; 黄锦基 【主权项内容】1.一种基于正则化条件的代数B-样条曲线的光栅化方法，包括如下步骤：(1)输入待绘制的代数B-条样曲线及其相关信息；曲线的相关信息包括该曲线的节点向量以及控制系数；(2)将该曲线分片处理，转化为分段代数Bézier曲线，即用代数Bernstein多项式表示输入曲线分片处理后的每个曲线段；(3)根据屏幕空间参数，确定需显示的曲线段；(4)对需显示的曲线段，以细分的方式剖分该曲线段所对应的区域，得到每个子区域曲线的控制系数；检测每个子区域是否满足正则条件：检测Bernstein多项式的控制系数在x和y方向上的改变次数：若存在x或y方向系数改变次数大于1，则不满足正则条件；若x和y方向系数改变次数都为0，即所有的系数同号，区域内没有曲线，直接跳出；若x和y方向系数改变次数不全为0，但改变的次数都小于2，则对Bernstein多项式控制系数进行差分检测以判断是否满足正则条件：将该Bernstein多项式在x或y方向上相邻的控制系数相减，检测所得到的差分结果是否同号：若得到的所有差分结果同号，说明该区域满足正则化条件；若得到的所有差分结果不同号，说明该区域不满足正则化条件；对检测出的不满足正则条件的子区域，继续以细分的方式剖分，直到剖分后的子区域满足正则条件或者区域面积小于一个像素；(5)对满足正则条件或虽不满足正则条件但区域面积小于一个像素的子区域，绘制该子区域的曲线并在屏幕显示。 【当前权利人】浙江大学 【当前专利权人地址】浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000470095016Q 【引证次数】2.0 【自引次数】1.0 【他引次数】1.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】3

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