【摘要】 本发明公开了一种多光束光阱刚度标定装置及其方法。它包括分度台、光纤光阱系统的基片、被捕获的微粒、隔离器、激光器；分度台上设有光纤光阱系统的基片，光纤光阱系统的基片上载有待被捕获的微粒，两激光器发出的激光经隔离器通过光纤与由光纤光阱系统的基片固定相对的光纤相连；最后照射到待被捕获的微粒上，产生光阱。本发明采用残余重力的方法，为多光束光阱提供微小的外力，通过测量平衡位置的位移和残余重力的大小，标定光阱的刚度。多光束光阱具有灵敏度高，刚度小的特点，其刚度可以达到, 传统的测量刚度的方法不再适用于这种加速度计刚度的标定。该方法适用于标定由激光的散射力和梯度力所产生的光阱的刚度。 【专利类型】发明授权 【申请人】浙江大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】西湖区 【申请号】CN201210322842.X 【申请日】2012-09-04 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102841219B 【公开公告日】2014-04-30 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102841219B 【授权公告日】2014-04-30 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01P21/00 【发明人】胡慧珠; 张威; 铁敏强; 缪立军 【主权项内容】一种多光束光阱刚度标定方法，其特征在于：采用多光束光阱刚度标定装置，将待被捕获的微粒(3)置于液体中，液体的密度小于微粒的密度，通过光阱将待被捕获的微粒(3)捕获在一个稳定的位置，当光纤光阱系统的基片(2)有一个倾角的变化时，待被捕获的微粒(3)在倾角的方向受到残余重力的影响和发生位移，再次平衡时，光阱力与残余重力平衡；由于光阱力在一个小范围内是线性的，通过测量不同倾角下微粒的位移，标定出光阱的刚度；多光束光阱刚度的标定的具体步骤如下：步骤一、装配好光纤光阱系统，将光纤光阱系统的基片(2)固定于分度台(1)上，在“十”字型凹槽中滴入液体，置于显微镜下观察，使得可以清晰的看到“十”字型凹槽中心；步骤二、将待被捕获的微粒(3)滴入光纤光阱系统基片的“十”字凹槽中，打开激光器(5)，确认待被捕获的微粒(3)被光束捕获；步骤三、打开显微镜的录像，录制5分钟的视频；将分度台(1)转动角度，再录制5分钟的视频；步骤四、采用视频处理的方法，处理步骤三得到的视频，得出分度台(1)转动前后微粒相对于光纤端面的位移；所述的多光束光阱刚度标定装置包括分度台(1)、光纤光阱系统的基片(2)、待被捕获的微粒(3)、隔离器(4)、激光器(5)；分度台(1)上设有光纤光阱系统的基片(2)，光纤光阱系统的基片(2)上载有待被捕获的微粒(3)，两激光器(5)发出的激光经隔离器(4)通过光纤与由光纤光阱系统的基片(2)固定相对的光纤相连；最后照射到待被捕获的微粒(3)上，产生光阱；所述的光纤光阱系统的基片(2)、隔离器(4)、激光器(5)由光纤连接组成光纤光阱系统；所述的光纤光阱系统的基片(2)上的中心设有一个“十”字型凹槽，并固定有相互垂直相对的两组光纤构成光纤光阱系统的基片。 【当前权利人】浙江大学 【当前专利权人地址】浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000470095016Q 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】10

未经允许不得转载：http://www.zhongzhencnc.com/1791604104.html