【摘要】 本发明公开了一种二维超分辨显微方法，包括以下步骤：1)开启第一共焦成像模式，收集待测样品发出的信号光得到I1(x，y)；2)开启第二共焦成像模式，收集待测样品发出的信号光得到I2(x，y)；3)开启第一负共焦成像模式，收集待测样品发出的信号光得到I3(x，y)；4)开启第二负共焦成像模式，收集待测样品发出的信号光得到I4(x，y)；5)根据公式计算得到有效信号光强I(x，y)，并利用I(x，y)得到超分辨图像。本发明还公开了一种二维超分辨显微装置。本发明具有成像速度快、装置简单和信噪比好的优点。 【专利类型】发明授权 【申请人】浙江大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】西湖区 【申请号】CN201210331504.2 【申请日】2012-09-10 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102866137B 【公开公告日】2014-07-16 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102866137B 【授权公告日】2014-07-16 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01N21/64; G01N21/21 【发明人】匡翠方; 李帅; 郝翔; 顾兆泰; 刘旭 【主权项内容】： 。一种二维超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤：1)开启第一光源，并关闭第二光源、第三光源和第四光源，所述第一光源发出的工作光束转换为线偏振光后对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第一信号光强I1(x, y)，其中x, y为扫描点的二维坐标；2)开启第二光源，并关闭第一光源、第三光源和第四光源，所述第二光源发出的工作光束转换为线偏振光后对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第二信号光强I2(x, y)，其中x, y为扫描点的二维坐标；3)开启第三光源，并关闭第一光源、第二光源和第四光源，所述第三光源发出的工作光束转换为线偏振光后进行相位调制，并对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第三信号光强I3(x, y)，其中x, y为扫描点的二维坐标；所述步骤3)中的相位调制函数为；式中：ρ为光束上某点与光轴的距离，为光束垂直光轴剖面内位置极坐标矢量与水平方向的夹角；4)开启第四光源，并关闭第一光源、第二光源和第三光源，所述第四光源发出的工作光束转换为线偏振光后进行相位调制，并对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第四信号光强I4(x, y)，其中x, y为扫描点的二维坐标；所述步骤4)中的相位调制函数为：式中：ρ为光束上某点与光轴的距离，为光束垂直光轴剖面内位置极坐标矢量与水平方向的夹角；5)根据公式Ie1(x, y)＝I1(x, y)-γI3(x, y)计算得到第一差分光强，根据公式Ie2(x, y)＝I2(x, y)-γI4(x, y)计算得到第二差分光强，最终利用I(x, y)＝min{Ie1(x, y), Ie2(x, y)}计算有效信号光强I(x, y)，并利用I(x, y)得到超分辨图像，其中γ为差分系数。 【当前权利人】浙江大学 【当前专利权人地址】浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000470095016Q 【引证次数】4.0 【被引证次数】2 【他引次数】4.0 【被自引次数】2.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】7

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