【摘要】 本发明涉及集成电路测试设备领域，目的是提供一种测试集成电路效率高且测试触头与测试端头之间保持良好接触的集成电路测试多工位定位装置。一种集成电路测试多工位定位装置，所述的集成电路测试多工位定位装置包括安装座、与安装座固定连接的送料轨道、若干个测试触头、用于把集成电路分送到各测试触头处的分粒机构、分粒驱动机构、推动测试触头与集成电路测试端头接触的推动机构和推动驱动机构；所述的分粒驱动机构分别与分粒机构和安装座固定连接；所述的推动驱动机构分别与推动机构和安装座固定连接。该集成电路测试多工位定位装置测试集成电路效率高且测试触头与测试端头之间保持良好接触。 【专利类型】发明授权 【申请人】杭州长川科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】310052 浙江省杭州市滨江区滨安路1180号华业高科技产业园3号楼6楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】滨江区 【申请号】CN201210074593.7 【申请日】2012-03-20 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102636739B 【公开公告日】2014-08-13 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102636739B 【授权公告日】2014-08-13 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01R31/28 【发明人】叶键波; 韩笑; 王维 【主权项内容】一种集成电路测试多工位定位装置，其特征是：所述的集成电路测试多工位定位装置包括安装座、与安装座固定连接的送料轨道、若干个测试触头、用于把集成电路分送到各测试触头处的分粒机构、分粒驱动机构、推动测试触头与集成电路测试端头接触的推动机构和推动驱动机构；所述的分粒驱动机构分别与分粒机构和安装座固定连接；所述的推动驱动机构分别与推动机构和安装座固定连接；所述的安装座包括底板、固定板和连接杆；所述的底板设有通孔；所述的固定板和送料轨道分别位于底板的通孔所在处的两侧，固定板通过连接杆与底板固定连接，送料轨道与底板固定连接；所述的送料轨道沿长度方向设有送料槽和端头槽；所述的端头槽的两侧端分别与送料槽和送料轨道的一侧外表面贯通。 【当前权利人】长川科技(内江)有限公司 【当前专利权人地址】四川省内江市高新区红桥街112号附1号1栋1单元4楼1号A区1号 【引证次数】6.0 【被引证次数】1 【自引次数】1.0 【他引次数】5.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】15

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