【摘要】 一种多层闪烁晶体的正电子发射断层成像探测器，其包括多层闪烁晶体、光电探测器系统以及算法系统，多层闪烁晶体包括n层阵列闪烁晶体和m层连续闪烁晶体，n与m均为大于等于1的整数，且n与m的和小于等于10，阵列闪烁晶体由长条型闪烁晶体条沿其宽度和长度方向排列构成，连续闪烁晶体为内部未经过切割的闪烁晶体，阵列闪烁晶体与连续闪烁晶体沿长条型闪烁晶体条的高度方向按顺序耦合构成多层闪烁晶体，连续闪烁晶体的底面与光电探测器系统相耦合。本发明的正电子发射断层成像探测器能够更准确的获得γ光子在闪烁晶体中能量沉积的位置与时间，具有更高的γ光子探测效率，且应用到正电子发射断层成像系统中时，可以提高系统的空间分辨率、时间分辨率、灵敏度，进而可以提高系统的成像质量。 【专利类型】发明授权 【申请人】苏州瑞派宁科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215163 江苏省苏州市高新区培源路2号微系统园m3-101 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】虎丘区 【申请号】CN201210207766.8 【申请日】2012-06-21 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102707310B 【公开公告日】2014-06-11 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102707310B 【授权公告日】2014-06-11 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01T1/29 【发明人】谢庆国; 奚道明; 朱俊; 王璐瑶 【主权项内容】一种多层闪烁晶体的正电子发射断层成像探测器，其特征在于：所述正电子发射断层成像探测器包括将γ光子转换为闪烁光的多层闪烁晶体、将闪烁光转换为电信号的光电探测器系统以及根据电信号获得γ光子在多层闪烁晶体中能量沉积大小，位置以及时间的算法系统，所述多层闪烁晶体包括n层阵列闪烁晶体和m层连续闪烁晶体，其中，n与m均为大于等于1的整数，且n与m的和小于等于10，所述阵列闪烁晶体由长条型闪烁晶体条沿其宽度和长度方向排列构成，所述连续闪烁晶体为内部未经过切割的闪烁晶体，所述阵列闪烁晶体与连续闪烁晶体沿长条型闪烁晶体条的高度方向按顺序耦合构成多层闪烁晶体，所述多层闪烁晶体的底层为连续闪烁晶体，其底面与光电探测器系统的光电探测面相耦合。 【当前权利人】苏州瑞派宁科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市高新区培源路2号微系统园m3-101 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91320505684944300K 【引证次数】3.0 【被引证次数】3 【他引次数】3.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】36.0 【家族被引证次数】55

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