【摘要】 本发明公开了一种自适应超声波相控阵检测装置系统误差的方法。本发明方法包括首先对超声波相控阵检测装置进行校准，设置超声波相控阵检测装置，然后使用超声波相控阵检测装置进行多次采样，并保存每次采样得到的数据，对多次检测结果进行分析，利用多次采集求平均值的方法，提取由于超声波相控阵检测装置系统误差带来的平均回波信号，采用二维小波算法对进行一层小波分解，去除中的高频成分，得到，最后对工件进行检测得到回波信号，在中减去得到，为去除超声波相控阵检测装置系统误差之后的实际被检工件产生的回波信号，达到自适应超声波相控阵检测装置系统误差的目的。本发明有利于检测人员对缺陷信号的判别、提高检出率。。微信 【专利类型】发明授权 【申请人】中国计量学院 【申请人类型】学校 【申请人地址】310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】上城区 【申请号】CN201210326910.X 【申请日】2012-09-06 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102866209B 【公开公告日】2014-12-31 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102866209B 【授权公告日】2014-12-31 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01N29/30; G01N29/44 【发明人】王强; 肖琨; 胡栋 【主权项内容】一种自适应超声波相控阵检测装置系统误差的方法，其特征在于该方法包括以下步骤：步骤一：在超声波相控阵检测装置主机上安装探头和楔块，对超声波相控阵检测装置进行声速校准、楔块延时校准、灵敏度校准及编码器校准；步骤二：设置超声波相控阵检测装置的延时规则、聚焦法则、增益、抑制、起始、范围、声速、电压、平均、标尺、工件厚度、工件材料、检测模式、聚焦深度、探头类型、探头阵元数、探头频率及波束类型；步骤三：在楔块尚未接触被检工件前，使用超声波相控阵检测装置进行多次采样，并保存每次采样得到的数据；步骤四：对多次检测结果进行分析，利用多次采集求平均值的方法，提取由于超声波相控阵检测装置系统误差带来的平均回波信号F(x, y)，表达式如下：F(x, y)=Σ i=1Nf(x, y)/N]]>式中，f(x, y)为单次检测中测试到的回波信号，x、y分别为回波信号在x方向和y方向的坐标，N为检测次数；步骤五：采用二维小波算法对F(x, y)进行一层小波分解，去除F(x, y)中的高频成分，二维小波函数族的表达式如下：ψ a, bx, by(x, y)=1 【当前权利人】中国计量学院 【当前专利权人地址】浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 【统一社会信用代码】123300004700090698 【引证次数】4.0 【他引次数】4.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】9

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