【摘要】 本发明公开了一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法及装置。下位机中的串口通讯单元经RS-232通讯接口，且通过DB9线缆与上位机连接，下位机中的通过无线射频信息读取单元发出的电磁波与射频电子标签通讯。该方法通过读取安装在标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备上的射频电子标签编码信息，在设备指标信息数据库中检索出相应的设备指标信息，将该信息与工业温度计校准项目核验判据进行比对，判断是否符合校准条件。本发明对开展工业温度计校准活动所需设备的指标信息进行管理，既保证校准活动的可靠性，又减轻校准工作量，由于能够准确、快速地进行设备指标信息核对，有效地提高了计量校准活动的工作效率。。： 【专利类型】发明授权 【申请人】中国计量学院 【申请人类型】学校 【申请人地址】310018 浙江省杭州市江干经济开发区学源街 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】上城区 【申请号】CN201210363087.X 【申请日】2012-09-26 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102928122B 【公开公告日】2014-04-16 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102928122B 【授权公告日】2014-04-16 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01K15/00 【发明人】富雅琼; 邵一轶; 陈乐; 孙坚; 楼导; 谢敏; 黄艳岩; 许素安 【主权项内容】一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法，其特征在于包含以下步骤：a)观察用于工业温度计自动校准的设备是否安装有唯一编码的射频电子标签，用于工业温度计自动校准的设备包括标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表，如果标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表没有分别安装具有唯一编码的射频电子标签，则对标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表安装新的射频电子标签；b)在进行校准前，无线射频信息读取单元扫描安装于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上的射频电子标签，获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上射频电子标签的编码信息；c)无线射频信息读取单元将扫描到的各设备编码信息经校准信息处理单元中的MCU通过串口通讯单元传输至装有设备指标信息数据库的上位机中，将所获取的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码信息与设备指标信息数据库中的数据进行核对，如果没有在设备指标信息数据库中核对到该标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码信息所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，则在设备指标信息数据库中录入新的设备指标信息，并保存在设备指标信息数据库中；d)装在上位机上的工业温度计自动校准软件从设备指标信息数据库中获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码信息所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，将所获得的设备指标信息通过串口通讯单元经校准信息处理单元中的MCU传输至校准信息处理单元中的非易失性存储器，非易失性存储器内保存有工业温度计校准项目核验判据；通过MCU将所获得的设备指标信息与保存在非易失性存储器中的工业温度计校准项目核验判据进行核对，当全部设备指标信息符合核验判据要求时，MCU通过串口通讯单元发送允许开展校准活动的信号至上位机中的工业温度计自动校准软件，否则MCU通过串口通讯单元发送不允许开展校准活动的信号和不合要求的设备编码信息至上位机中的工业温度计自动校准软件；e)如果上位机上的工业温度计自动校准软件获得MCU发来的允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件开始进行工业温度计自动校准，并在校准结束后进行校准结果的计算与校准证书的打印；如果工业温度计自动校准软件获得MCU发来的不允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件向操作人员报警，并显示不合要求的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备编码信息。 【当前权利人】杭州斡维电子科技有限公司 【当前专利权人地址】浙江省杭州市钱塘新区学源街258号中国计量大学东区逸夫科技楼3层304室 【统一社会信用代码】123300004700090698 【引证次数】3.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】4

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