【摘要】 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，其包括：检测模块，用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，其与所述检测模块电性连接以显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；第一位移表，用于测量并显示热继电器开始检测时从初始位置运动至测量位置的距离；第二位移表，用于测量并显示热继电器结束检测时从测量位置运动至初始位置的距离。通过设置第一位移表及第二位移表，使得检测人员可以直观地监控热继电器开始检测时从初始位置运动至检测位置的距离和检测结束后从检测位置运动至初始位置的距离是否一致，避免了对热继电器双金属片位置的不精确的调整，确保在流水线上连续精确地完成热继电器双金属片位置的检测，提高产品良率。 【专利类型】发明申请 【申请人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215121 江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】吴中区 【申请号】CN201210203982.5 【申请日】2012-06-20 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103512521A 【公开公告日】2014-01-15 【公开公告年份】2014 【IPC分类号】G01B21/00 【发明人】李佳 【主权项内容】一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的初始位置运动至预定的测量位置以开始对热继电器双金属片的位置状态的检测，所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的测量位置运动至预定的初始位置以结束对热继电器双金属片的位置状态的检测，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：检测模块，所述检测模块用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，所述显示装置与所述检测模块电性连接，所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；第一位移表，所述第一位移表用于测量并显示热继电器开始检测时从所述初始位置运动至测量位置的距离；第二位移表，所述第二位移表用于测量并显示热继电器结束检测时从所述测量位置运动至初始位置的距离。 【当前权利人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族被引证次数】2

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