【摘要】 本发明公布了一种红外热像仪像元点的标定方法，包括黑体辐射定标、挡板温度测量。通过黑体辐射定标，可以测得红外热成像的电压V与温度T的映射关系。通过多次挡板的实测值和计算值计算公式的推导，确定影响红外热像仪像元点测温精度n值，从而提高红外热像仪的测温精度。本发明有以下优点：1．采用挡板装置温度测量的方法，有效的提高了红外热成像测温公式中n的精度，从而提高了红外热成像测温的精度。2．通过红外探测器每个像元的精度的修正，可以有效的提高红外热成像测温的非均匀性。3．测量实验中，不用考虑挡板的发射率对实验结果的影响。4．测量实验中，不用考虑温度对实验结果的影响。 【专利类型】发明授权 【申请人】无锡艾立德智能科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A区四层 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201210583744.1 【申请日】2012-12-28 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103076101B 【公开公告日】2014-12-31 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN103076101B 【授权公告日】2014-12-31 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01J5/52 【发明人】李令想; 张铆; 刘燕; 陈黎明; 廖代春 【主权项内容】一种红外热像仪像元点的标定方法，包括下述步骤：(1)辐射定标：环境温度设为273K，黑体温度设为273K，检测红外探测器的电压VT(i，j)，其中i为红外探测器水平像素数，j为红外探测器垂直像素数；步进提高黑体温度分别测得各个温度下红外探测器的电压，根据测得的电压建立红外探测器电压VT(i，j)与黑体温度T映射关系；(2)近距离设置一块发射率为ε为0.5左右可控温度的挡板，分别设置4个不同的温度T01-T04，用红外探测器测出一组V01(i，j)-V04(i，j)的数据，通过查辐射定标的表，得到热像仪指示的辐射温度T’01(i，j)-T’04(i，j)共4个温度，根据近距离测温公式T0为近距离被测灰体表面真实温度，T’0为热像仪指示的辐射温度，TU为环境温度，ε为发射率，n为标定值；代入已知数据得到T01={1ϵ [T′ 01(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j)]}1n(i, j), ]]>T02={1ϵ [T′ 02(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j)]}1n(i, j), ]]>T03={1ϵ [T′ 03(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j)]}1n(i, j), ]]>T04={1ϵ [T′ 04(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j)]}1n(i, j); ]]>(3)根据T01和T02公式得到[T01T02]n(i, j)=T′ 01(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j)T′ 02(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j), ]]>根据T03和T04公式得到[T03T04]n(i, j)=T′ 03(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j)T′ 04(i, j)n(i, j)-(1-ϵ )TUn(i, j); ]]>(4)根据步骤(3)中公式得到1-(T01T02)n(i, j)1-(T03T04)n(i, j)=T′ 01n(i, j)-(T01T02)n(i, j)T′ 02n(i, j)T′ 03n(i, j)-(T03T04)n(i, j)T′ 04n(i, j), ]]>将已知数据代入公式，计算出(i，j)像元点处的标定值n(i, j)；(5)通过步骤(4)算法采用逐步逼近的方法，算得一个红外探测器每个像元点较为精确的n(i, j)值，对每个像元点进行标定。 【当前权利人】无锡艾立德智能科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A区四层 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91320214569136017C 【被引证次数】1 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】9.0 【家族被引证次数】19

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