【摘要】 本发明公开了一种计算机辅助校核的超声波探伤方法，包括以下步骤：1计算机建模，2初选扫查参数，3进行直射波扫查模拟，4进行一次反射波扫查模拟，5校核区域覆盖情况并对参数作动态调整，6进行真实的超声波探伤检测。本发明利用计算机模拟，可以直观地展现焊接接头的横截面上直射波和一次反射波扫查的模拟状况，同时通过实现面域的动态实时调整，直观方便地进行快速调整，从而有效地提高了校核与调整参数的效率。本发明可以基于最优的K值进行扫查，灵活调节其他参数，从而保证了获得最优的超声图像，保证了探伤检测质量。 【专利类型】发明授权 【申请人】无锡化工装备有限公司(原无锡化工装备总厂) 【申请人类型】企业 【申请人地址】214000 江苏省无锡市滨湖区华谊路36号 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201210161884.X 【申请日】2012-05-23 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102662000B 【公开公告日】2014-06-18 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102662000B 【授权公告日】2014-06-18 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01N29/04 【发明人】曹洪海; 过企新; 刘建书 【主权项内容】一种计算机辅助校核的超声波探伤方法，其特征在于包括以下步骤：第一步：计算机建模：在绘图软件中与实物等比例绘制出焊接接头横截面的图形，建立二维模型；第二步：初选扫查参数：所述扫查参数包括K值、直射波扫查距离(D1)与一次反射波扫查距离(D2)；第三步：进行直射波扫查模拟，获得第一区域(A1)：从直射波扫查起点(3)至终点(4)，在此两点向下与竖直线成β角作出入射斜线，两条平行入射斜线与板材(1)的上下表面之间，为直射波扫查区(A1)；第四步：进行一次反射波扫查模拟，获得第二区域(A2)：从一次反射波扫查起点(5)与终点(6)，在此两点向下与竖直线成β角作出入射斜线，并在与板材(1)的下表面相交的交点上作出反射线；在两条平行反射斜线与板材(1)的上下表面之间，即为一次反射波扫查区(A2)；第五步：校核区域覆盖情况，并作动态调整：将所述直射波扫查区(A1)与一次反射波扫查区(A2)叠加，即作逻辑“与”操作，观察叠加区域是否完全覆盖焊缝区域(A0)，如果没有完全覆盖，存在着漏检区域(A3)，则需要进行所述扫查参数进行调整；第六步：进行真实的超声波探伤检测：如果第五步校核成功，则根据模拟取得的扫查参数，采用超声探头对焊接接头(2)进行实际探伤扫查。 【当前权利人】无锡化工装备股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市滨湖区华谊路36号 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】7

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