【摘要】 本发明公布了一种红外热像仪非均匀校正系数生成及控制方法，包括1、采集红外焦平面分别在“高温”和“低温”下的响应数据。2、通过上位机计算得到两点校正法的增益系数G，并将其下载到并行flash中。3、开机启动从flash中载入增益系数G到sram中。4、进行一次一点校正系数生成动作得到偏移系数O’。5、通过对探测器工作温度的分析来控制补偿校正偏移系数的生成。6、进行两点加一点法非均匀校正，并输出校正结果等步骤。本发明去除了两点法偏置系数O的计算和存储过程，降低了一半的flash存储容量并且将非均匀系数的下载和载入过程缩短一半，同时采用并行flash的设计加速flash的读写速度，极大地提高了电路运行效率。 【专利类型】发明授权 【申请人】无锡艾立德智能科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A区四层 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201210545545.1 【申请日】2012-12-17 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103033270B 【公开公告日】2014-09-03 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN103033270B 【授权公告日】2014-09-03 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01J5/52 【发明人】刘燕; 梅平; 韦良忠; 陈黎明; 蒋俊 【主权项内容】一种红外热像仪非均匀校正系数生成及控制方法，包括下述步骤：(1)采集红外焦平面分别在“高温”和“低温”下的响应数据；(2)通过上位机计算得到两点校正法的增益系数G，并将其下载到并行flash中；(3)红外热像仪开机启动从flash中载入增益系数G到sram中；(4)进行一次一点校正系数生成动作得到偏移系数O’；(5)通过对探测器工作温度的分析来判断是否需要进行补偿，如果是进入步骤(6)，如果否则转入步骤(7)；(6)进行一次补偿操作，更新一点校正系数生成动作得到偏移系数O’；(7)进行两点加一点法非均匀校正，并输出校正结果；所述步骤(5)中探测器工作温度的分析为防止过于频繁的校正，其操作方法为：(a)探测器实现一次开机补偿动作，并记录探测器工作温度T1；(b)结合开机阶段工作温度变化快的特性，对开机阶段作校正时间约束，设定一点补偿校正阈值D为一个较大的温度变化阈值Dmax；(c)实时检测探测器工作温度T2，得到探测器温度变化ΔT＝|T2-T1|；(d)如果ΔT> D，则转入步骤(e)，否则转回步骤(c)；同时本步骤亦步骤(5)的判断依据，如果ΔT< D，则转到步骤(7)，否则转到步骤(6)；(e)实现一次补偿动作，并记录两次校正时间间隔t，更新工作温度T1；(f)判断两次校正时间间隔是否满足要求；(g)如果校正间隔时间满足要求，则对温度变化阈值D做一次减运算，最后趋于某一较小的固定阈值Dmin，转入步骤(c)；(h)如果校正间隔时间过小，则对温度变化阈值D做一次加运算，最后趋于固定阈值Dmax，转入步骤(c)。。 【当前权利人】无锡艾立德智能科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A区四层 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91320214569136017C 【引证次数】1.0 【他引次数】1.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】9

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