【摘要】 本发明涉及一种基于编码结构光测量平板裂缝天线表面三维形貌的方法及系统。该系统将平板裂缝天线固定于测试台上，调整CCD和LCD位置，使物像尽可能大，拍摄静止的平板裂缝天线图像，标定测量系统，确定系统参数；根据静止条件拍摄的图像特征进行编码，打开LCD，对被测天线进行编码结构光投影；进行图像拍摄，根据拍摄到的投影到的经天线表面调制后的结构光图像以及与原图像的变形量，计算得到天线表面的各网格特征点的三维坐标，并完成数据处理和数据存储工作，利用天线表面各点的三维坐标值，拟合得到整个天线表面的三维形貌图。本发明通过相应的特征识别和缺陷监测程序可以方便、快速判断缺陷特征信息；可以测量1m×1m范围的工件，其形貌测量精度达3×10-5m。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国电子科技集团公司第十四研究所 【申请人类型】企业 【申请人地址】210013 江苏省南京市古平岗4号 【申请人地区】中国 【申请人城市】南京市 【申请人区县】鼓楼区 【申请号】CN200710082973.4 【申请日】2007-11-23 【申请年份】2007 【公开公告号】CN105519263B 【公开公告日】2011-12-21 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN105519263B 【授权公告日】2011-12-21 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G02B27/22; H04N1/64; G06T9/00 【发明人】钱吉裕; 平丽浩; 李春林 【主权项内容】一种基于编码结构光测量平板裂缝天线表面三维形貌的方法，其特征在于：(1)将待测平板裂缝天线[6]固定于测试台[2]上，放置CCD[4]和LCD[3]，保证CCD[4]能够拍摄到所有天线[6]，LCD[3]投影全部覆盖天线区域；(2)通过数据线将CCD[4]和LCD[3]连接上计算机[5]，拍摄静止时的天线图像，根据图像中缝隙尺寸标定CCD[4]以及LCD[3]位置；(3)对LCD[3]进行结构光编码并投影到待测平板裂缝天线[6]，利用拍摄的天线静止图像，在天线裂缝[7]周围采用精编码，方格尺寸1mm，在其它区域采用粗编码，方格尺寸2mm；(4)CCD[4]通过固定于平台上的导轨[1]连接，移动导轨[1]并拍摄经天线表面调制后的结构光局部图像，计算机[5]存储导轨[1]位置和局部图像；(5)重复步骤(4)，保证整个天线全部被拍摄到；(6)结合导轨[1]位置值，对拍摄的图像进行拼接，并解算出各格点的坐标值，并生成报表；(7)根据各格点的坐标值拟合成三维形貌图，并结合设计值，判断出缺陷位置和缺陷程度。 【当前权利人】中国电子科技集团公司第十四研究所 【当前专利权人地址】江苏省南京市古平岗4号 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族被引证次数】2

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