【摘要】 本发明公开了一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法。本发明提出了利用Y因子法测量天线任意位置时，天线在带罩和不带罩情况下的噪声温度，计算二者的差值求得天线罩引起的天线剩余噪声温度，由此确定天线罩的插入损耗。本发明的方法简单可行，具有推广和应用价值。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国电子科技集团公司第五十四研究所 【申请人类型】企业 【申请人地址】050081 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天伺部 【申请人地区】中国 【申请人城市】石家庄市 【申请人区县】桥西区 【申请号】CN201210062979.6 【申请日】2012-03-12 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102590616B 【公开公告日】2014-10-29 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102590616B 【授权公告日】2014-10-29 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01R23/16 【发明人】秦顺友; 武震东; 梁赞明; 杜彪; 张文静; 邹火儿; 杜晓恒; 王聚亮; 任冀南; 张志华; 秦光远; 李光 【主权项内容】一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法，其特征在于包括步骤：(1)测量天线在带罩和不带罩情况下，天线的噪声温度Tan和Tan′，由测量的Y因子，利用下式计算天线噪声温度：Tan=T0+TLNAYy-TLNA]]>Tan′ =T0+TLNAYn-TLNA]]>式中：Tan-天线带罩情况下的噪声温度；T0-常温负载的噪声温度；TLNA-低噪声放大器的噪声温度；Yy-天线带罩时测量的Y因子；Tan′-天线不带罩情况下的噪声温度；Yn-天线不带罩时测量的Y因子；所述的Y因子为低噪放大器接常温负载时的噪声功率与低噪放大器接天线时的噪声功率之比；(2)计算天线罩引起的天线剩余噪声温度ΔT：ΔT＝Tan-Tan′(3)计算天线罩的插入损耗IL：由测量的天线罩引起的天线剩余噪声温度ΔT，用下式计算天线罩的插入损耗：IL=10× lg(1+Δ TT0)]]>完成天线罩插入损耗的测量。 【当前权利人】中国电子科技集团公司第五十四研究所 【当前专利权人地址】河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天伺部 【引证次数】5.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】12

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