【摘要】 本发明涉及基于光学相干断层扫描技术的光纤环质量检测方法及装置，属于光学测量、光纤传感及检测技术领域。该方法包括：将被测光纤环固定在一个旋转机构上；将光学相干断层扫描系统探头垂直固定于被测光纤环上方；以光纤环圆心为旋转轴旋转该光纤环，同时光学相干断层扫描系统的扫描探头对被测光纤环沿着被测光纤环轴向进行一维扫描，从而获得被测光纤环的OCT信息；根据OCT信息，进行三维图像重建，通过重建图像判断该被测光纤环表面及表面以下是否存在缺陷，并根据图像的不均匀位置对缺陷进行定位，以消除缺陷。该方法利用OCT检测光纤环成品的质量以及绕制过程中产生的绕制缺陷，可以有效提高各种使用光纤环的角度传感器的精度。 【专利类型】发明授权 【申请人】苏州光环科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215123 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园B6-202 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】吴中区 【申请号】CN201210381902.5 【申请日】2012-10-10 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102901615B 【公开公告日】2014-12-03 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102901615B 【授权公告日】2014-12-03 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01M11/00 【发明人】姚晓天; 李志宏; 孟卓 【主权项内容】一种基于光学相干断层扫描技术的光纤环质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)将被测光纤环固定在一个旋转机构上；(2)将光学相干断层扫描系统探头垂直固定于被测光纤环上方，使得入射光垂直对准被测光纤环；(3)以光纤环圆心为旋转轴旋转该光纤环，同时光学相干断层扫描系统的扫描探头对被测光纤环沿着被测光纤环轴向进行一维扫描，从而获得被测光纤环的OCT信息；或光纤环静止不动，扫描探头沿着光纤环轴向和垂直光纤环轴向两个方向进行二维扫描，从而获得被测光纤环局部的OCT信息；或光纤环静止不动，光学相干断层扫描系统的扫描探头相对被测光纤环沿着其外围转动，进行轴向扫描，从而获得被测光纤环的OCT信息；(4)根据获得的被测光纤环OCT信息，进行三维图像重建，通过重建图像判断该被测光纤环表面及表面以下是否存在缺陷，并根据图像的不均匀位置对缺陷进行定位，以消除缺陷。 【当前权利人】苏州光环科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园B6-202 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91320594679847266K 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】10

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