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一种标志图像的识别方法专利

时间:2026-09-21    作者:admin 点击: ( 0 ) 次

【摘要】 本发明公开了一种标志图像的识别方法,包括:步骤一,输入一个待识别标志图像到标志图像数据库;步骤二,将标志图像分割成大小相等的网格,并将每个网格的几何中心点设置为参考点;步骤三,逐一遍历并计算对应于每个网格内参考点的局部几何约束分布直方图;步骤四,计算全局几何约束分布矩阵,并将其大小归一化;步骤五,遍历标志图像数据库中的每一个标志图像,重复步骤二至步骤四,得到标志图像数据库中的每一个标志所对应的全局几何约束分布矩阵,并分别计算待识别标志图像与标志图像数据库中的每一个标志的曼哈顿距离作为对应的相似度;步骤六,将标志间的相似度数值从低到高排序输出,完成标志图像的识别。 【专利类型】发明授权 【申请人】常州南京大学高新技术研究院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】213164 江苏省常州市武进市常武中路801号科教城科教会堂南三楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】常州市 【申请人区县】武进区 【申请号】CN201210198831.5 【申请日】2012-06-15 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102737254B 【公开公告日】2014-04-02 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102737254B 【授权公告日】2014-04-02 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G06T7/00; G06K9/64 【发明人】路通; 王团团 【主权项内容】1.一种标志图像的识别方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一,输入一个待识别标志图像到标志图像数据库,所述待识别标志图像以及标志图像数据库中的标志图像中都包含若干有效像素点; 步骤二,将标志图像划分为大小相等的网格,计算每个网格的几何中心点,将该几何中心点设置为参考点;把一个标志图像划分为H个网格,对H个网格的参考点依次编号为R0, R1, ..., RH-1; 步骤三,遍历一个标志图像中的任意两个像素组成的像素对,并计算每对像素点相对于当前参考点的几何约束特征值,所述几何约束特征值包括角度θ和长度比L;将所有像素对计算出来的约束特征值分别投影到各自的一维坐标系中;长度比L的取值范围为[0, 1],将取值范围[0, 1]划分为Q个等值段;角度θ的其取值范围为[0°, 180°],将取值范围[0°, 180°]划分为W个等值段;分别统计落在Q个等值段中的长度比L的数量百分比和落在W个等值段中的角度θ的数量百分比,从而构成两个直方图,即为当前参考点对应的局部几何约束分布直方图; 遍历一个标志图像中所有参考点,得到每个参考点对应的局部几何约束分布直方图; 步骤四,将一个标志图像中所有参考点对应的局部几何约束分布直方图进行组合,得到一个标志图像对应的全局几何约束分布矩阵,并对其进行大小归一化; 步骤五,重复步骤二至步骤四,遍历标志待识别标志图像和图像数据库中的每一个标志图像,得到每一个标志图像所对应的全局几何约束分布矩阵; 分别计算待识别标志图像与标志图像数据库中的每一个标志图像的曼哈顿距离作为对应的相似度; 步骤六,按照标志图像间的相似度数值从低到高排序输出对应的标志图像,完成标志图像的识别; 步骤三中,所述几何约束特征值中的长度比和角度计算方法如下: C(Rl)={(Lij, θij)|i∈[1, S-1], j∈[i+1, S]}, Lij=min{|PiRl|/|PjRl|, |PjRl|/|PiRl|}, Lij∈[0, 1], θij=∠PiRlPj, S为图像中像素点的个数,对S个像素点依次进行编号0, ..., i, ..., j, ..., S-1,i和j是其中任意两个编号,Pi和Pj分别为标志图像上S个像素点中的第i个和第j个像素,Rl代表当前网格内的参考点,0≤j≤H-1;|PiRl|和|PjRl|分别表示向量 和 的长度值;∠PiRlPj为上述两个向量形成的夹角;Lij和θij分别为第i个和第j个像素与参考点Rl形成的长度比值和角度值;C(Rl)表示所有的像素点相对于参考点Rl所形成的长度比值和角度值集合;min表示获取多个元素中的最小元素;对于参考点Rl,总共有S(S-1)/2对约束特征值; 步骤三中,所述当前参考点对应的局部几何约束分布直方图的计算如下: 对于长度比Lij,对Q个等值段进行编号0, ..., k, ..., Q-1; 对于角度θij,对W个等值段进行编号0, ..., t, ..., W-1; 对于参考点Rl,其长度比直方图 表示为: nk(Rl)表示参考点Rl所对应的长度比直方图中第k个等值段对应的数值; 对于参考点Rl,其角度直方图 表示为: mt(Rl)表示参考点Rl所对应的角度直方图中第t个等值段对应的数值; 步骤四中,所述全局长度比约束分布矩阵的表示为: , 全局角度约束分布矩阵表示为: ; 步骤四中,对全局几何约束分布矩阵进行大小归一化的方法如下: 对于全局长度比约束分布矩阵中的第a列,这列总共包含H个元素,记为: {na(Rp)|p=0, 1, ...H-1}, na(Rp)∈[0, 1]; 每个元素的取值范围为[0, 1],将[0, 1]划分成M个等值段,对M个等值段进行编号0, ..., r, ..., M-1,将第a列表示为: na(Rp)代表全局长度比约束分布矩阵中第a列的一个元素, 代表全局长度比约束分布矩阵第a列经过大小归一化之后的列向量,za(r)表示该列向量中第r个值; 将长度比L的取值范围[0, 1]划分为Q个等值段,得到大小归一化后的全局长度比约束分布矩阵: ; 对于全局角度约束分布矩阵中的第b列,这列总共包含H个元素,记为: {mb(Rq)|q=0, 1, ...H-1}, mb(Rq)∈[0°, 180°]; 每个元素的取值范围为[0°, 180°],将[0°, 180°]划分成N个等值段,对N个等值段进行编号0, ..., x, ..., N-1,将第b列表示为: mb(Rq)代表全局角度约束分布矩阵中第b列的一个元素, 代表全局角度约束分布矩阵第b列经过大小归一化之后的列向量,db(x)表示该列向量中第x个值; 经过大小归一化后的全局角度约束分布矩阵的形式如下: ; 步骤五中,两个标志图像之间的相似度的计算如下: dis=sum[abs(LRHS-LRHT)]+sum[abs(AHS-AHT)], 其中,LRH表示全局长度比约束分布矩阵,AH表示全局角度约束分布矩阵;待比较的两个标志图像的全局约束分布矩阵分别为{LRHS, AHS}和{LRHT, AHT};dis表示标志图像S和标志图像T的相似度,abs为绝对值函数,sum为求和函数。 【当前权利人】常州南京大学高新技术研究院 【当前专利权人地址】江苏省常州市武进市常武中路801号科教城科教会堂南三楼 【统一社会信用代码】123204004672993413 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】5

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