【摘要】 本发明涉及一种利用高光谱图像技术进行苹果粉质化无损检测方法。本发明的技术方案为：a、选取苹果样本；b、将苹果样本放置在高光谱图像采集系统中，采集对应苹果样本的高光谱图像，并将所述光谱图像量化成对应于不同光波长的数据矩阵；c、利用奇异值分解得到数据矩阵的奇异值矩阵；d、利用破坏性仪器采集苹果样本的汁液含量和压缩硬度指标，得到苹果粉质化结果；e、利用支持向量机构建苹果粉质化评价预估模型；f、采集高光谱图像，并输入到评价预估模型中，获得苹果粉质化评价结果。本发明通过评价预估模型及高光谱图像采集系统获得苹果的粉质化评价结果，能够在多数苹果无损的情况下，得到粉质化评价结果；操作简单，实时性好，可靠性高。 【专利类型】发明授权 【申请人】江南大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】214122 江苏省无锡市蠡湖大道1800号江南大学 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201010134921.9 【申请日】2010-03-19 【申请年份】2010 【公开公告号】CN101832926B 【公开公告日】2011-10-05 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN101832926B 【授权公告日】2011-10-05 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01N21/49; G01N33/02 【发明人】黄敏; 朱启兵 【主权项内容】1.一种利用高光谱图像技术进行苹果粉质化无损检测方法，其特征是，所述检测方法包括如下步骤： (a)、选取苹果样本； (b)、将苹果样本放置在高光谱图像采集系统中，采集对应苹果样本的高光谱图像，并将所述光谱图像量化成对应于不同光波长的数据矩阵Rw； (c)、利用奇异值分解方法，即 Rw＝UDVT 对数据矩阵Rw进行奇异值分解，得到数据矩阵Rw的奇异值矩阵D；其中矩阵U和矩阵V为满足U-1＝UT，V-1＝VT的正交阵； (d)、利用破坏性仪器采集苹果样本的汁液含量和压缩硬度指标，得到对应苹果粉质化结果y； (e)、利用支持向量机构建苹果粉质化评价预估模型，即 其中，z表示苹果粉质化评价结果，sgn(·)为符号函数，x为未进行破坏性仪器检测苹果的奇异值矩阵D′特征参数，xi为进行破坏性仪器检测苹果的奇异值矩阵D特征参数；k(x，xi)为支持向量机的核函数； 和 均为待定系数；n为用于建模的苹果样本总数；y为破坏性仪器得到的苹果粉质化结果；通过交叉验证的网格法确定支持向量机的核函数k(x，xi)、 和 从而得到苹果粉质化评价预估模型； (f)、利用高光谱图像采集系统采集待测苹果的高光谱图像，并将得到的高光谱图像的特征参数输入到步骤(e)得到的评价预估模型中，获得苹果粉质化评价结果z。 【当前权利人】江南大学 【当前专利权人地址】江苏省无锡市蠡湖大道1800号江南大学 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】1210000071780177X1 【引证次数】4.0 【被引证次数】1 【他引次数】4.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】21

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