【摘要】 本发明公开了一种超分辨显微方法和装置，其中方法包括：将激光器发出的激光光束准直后转换为线偏振光；线偏振光经第一次相位调制后进行光路偏转；偏转后的光束经聚焦和准直后转换为圆偏振光投射到待测样品上，收集待测样品各扫描点发出的信号光，得到第一信号光强；切换调制函数，对线偏振光进行第二次相位调制后投射到待测样品上，收集待测样品各扫描点发出的信号光，得到第二信号光强；计算有效信号光强，并得到超分辨图像。本发明装置简单，操作方便；可以在较低的光功率条件下实现超衍射极限的分辨率；成像速度快，在每一帧图像的扫描点数为512×512的情况下，帧频可达到每秒15帧以上。 【专利类型】发明授权 【申请人】浙江大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】西湖区 【申请号】CN201210227898.7 【申请日】2012-06-29 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102735617B 【公开公告日】2014-06-04 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102735617B 【授权公告日】2014-06-04 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01N21/17; G01N21/64; G02B21/06 【发明人】匡翠方; 李帅; 郝翔; 顾兆泰; 刘旭 【主权项内容】一种超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将激光器发出的激光光束准直后转换为线偏振光；2)对所述线偏振光进行相位调制，调制函数为其中，ρ为光束上某点与光轴的距离，为光束垂直光轴剖面内位置极坐标矢量与x轴的夹角；3)将所述相位调制后的线偏振光进行光路偏转；4)偏转后的光束经聚焦和准直后转换为圆偏振光投射到待测样品上，以实现对待测样品的二维扫描；5)在二维扫描过程中收集所述待测样品各扫描点发出的信号光，滤去杂散光得到第一信号光强I1(x, y)，其中x, y为扫描点的二维坐标；6)将步骤2)中的调制函数切换为ρ为光束上某点与光轴的距离，为光束垂直光轴剖面内位置极坐标矢量与x轴的夹角；7)重复步骤3)和步骤4)，对步骤5)中的各扫描点进行第二次扫描，收集得到的第二信号光强I2(x, y)；8)根据公式I(x, y)=I1(x, y)-γI2(x, y)计算有效信号光强I(x, y)，并利用I(x, y)得到超分辨图像，其中，为第一信号光强I1(x, y)中的最大值，为第二信号光强I2(x, y)中的最大值。 【当前权利人】浙江大学 【当前专利权人地址】浙江省杭州市西湖区浙大路38号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000470095016Q 【引证次数】3.0 【被引证次数】4 【自引次数】2.0 【他引次数】1.0 【被自引次数】3.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】12.0 【家族被引证次数】111

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