【摘要】 本发明公开了一种针对复制粘贴篡改的数码照片伪造检测方法，包括：把彩色数码照片从RGB转换到HSV三基色编码空间并分成H、S、V三个基色平面分量，采用SIFT算法在每个基色平面分量上进行SIFT关键点提取，计算所有SIFT关键点特征向量两两之间的欧氏距离偏离均值程度，据此判决获取特征匹配点对，并进一步从其中选取稳定特征匹配点对来实施照片伪造检测。采用本发明方法，即便是针对照片篡改者把某一区域拷贝然后粘贴到同一照片的两处不同区域的情况，也同样能够检测出来。而且，采用本发明方法，可以得到更精确的伪造检测效果。 【专利类型】发明授权 【申请人】浙江理工大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】上城区 【申请号】CN201210029764.4 【申请日】2012-02-10 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102609948B 【公开公告日】2014-04-16 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102609948B 【授权公告日】2014-04-16 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G06T7/00 【发明人】张华熊; 胡洁; 黄海; 薛福冰 【主权项内容】一种针对复制粘贴篡改的数码照片伪造检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)把彩色数码照片从RGB转换到HSV三基色编码空间；(2)把HSV三基色编码的彩色数码照片分成H、S、V三个基色平面分量；(3)采用SIFT算法对H、S、V三个基色平面分量分别进行SIFT关键点提取，每个SIFT关键点采用一个128维的特征向量T表示如下：T={t1, t2...t128}；(4)对于步骤(3)中获取的每个SIFT关键点，分别计算该SIFT关键点的128维特征向量与同一基色平面中所有其他SIFT关键点的128维特征向量的欧式距离L，从而得到欧式距离L的集合S：S={L1, L2...Li...}，其中，集合S中元素个数=同一基色平面中所有SIFT关键点的个数-1，Li为该SIFT关键点的128维特征向量与同一基色平面中另一个SIFT关键点的128维特征向量之间的欧式距离，其计算公式如下：LT1T2=Σ i=1128(xi-yi)2]]>其中，T1, T2分别表示两个SIFT关键点的128维特征向量，T1={x1, x2...x128}，T2={y1, y2...y128}；(5)对集合S计算得到该集合中所有元素的平均值E和方差D；(6)如果该SIFT关键点的128维特征向量与同一基色平面中另一个关键点的128维特征向量之间的欧式距离Li满足：Li< E-H×D，则认为这两个SIFT关键点构成特征匹配点对，其中，H为门限值，其取值满足：E-H×D> 0，H的取值为3-5；(7)从步骤(6)获取的特征匹配点对中选择稳定特征匹配点对，所述稳定特征匹配点对在H、S、V三个基色平面分量的至少两个基色平面分量中均为特征匹配点对；(8)将步骤(7)获取的稳定特征匹配点对用点与点之间连线的形式在彩色数码照片中标记出来, 如果所标记的线段两端明显集中于两个区域，并且两个区域均超过8×8点阵大小，则判决该数码照片是伪造的。 【当前权利人】神州网云(北京)信息技术有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区紫竹院路98号北京化工大学西校区教学楼II段(科技园A栋)3层318 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12330000470009034M 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】17

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