【摘要】 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，热继电器包括电流触头，该热继电器双金属片检测装置包括：检测模块，用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，其与所述检测模块电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值；其中，检测模块与热继电器双金属片配合时，被检测的热继电器双金属片至少部分暴露于热继电器双金属片检测装置之外。通过如此的设置，可以在对热继电器双金属片位置进行检测的同时，由检测人员实时对热继电器双金属片的位置进行调整。 【专利类型】发明申请 【申请人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215121 江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】吴中区 【申请号】CN201210197880.7 【申请日】2012-06-15 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103512516A 【公开公告日】2014-01-15 【公开公告年份】2014 【IPC分类号】G01B21/00 【发明人】沈皓然 【主权项内容】一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括电流触头，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：检测模块，所述检测模块用于与热继电器双金属片配合以检测其位置状态；显示装置，所述显示装置与所述检测模块电性连接，所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；其中，所述检测模块与热继电器双金属片配合时，所述热继电器双金属片至少部分暴露于所述热继电器双金属片检测装置之外。 【当前权利人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【被引证次数】1 【被自引次数】1.0 【家族被引证次数】1

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