【摘要】 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，热继电器双金属片检测装置包括：探针，其用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，其与探针电性连接，其通过探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，其与所述位移传感器电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，用于与热继电器中电流触头相配合，该拨杆位置可调。本发明热继电器双金属片检测装置通过设置位置可调的拨杆，以模拟不同电流强度的检测环境，保证检测环境的多样性，使检测结果更加准确。 【专利类型】发明申请 【申请人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215121 江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】吴中区 【申请号】CN201210197894.9 【申请日】2012-06-15 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103512517A 【公开公告日】2014-01-15 【公开公告年份】2014 【IPC分类号】G01B21/00 【发明人】沈皓然 【主权项内容】一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：探针，所述探针用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，所述拨杆用于与热继电器中电流触头相配合，所述拨杆位置可调。 ： 【当前权利人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【被引证次数】1 【被自引次数】1.0 【家族被引证次数】1

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