【摘要】本发明公开了一种在医用镁合金表面制备二氧化钛活性膜层的方法，该方法首先采用磁控溅射法在镁合金表面生长纯钛膜，然后通过微弧氧化法在纯钛膜表面原位生长二氧化钛活性膜层。本发明方法制备的膜层具有多孔结构，膜层与镁合金基体结合紧密，且具有良
【摘要】 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，其包括：检测模块，用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，该显示装置与所述检测模块电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；升降机构，包括基台以及为基台提供上升及下降动力的升降泵，检测模块设置于所述基台上。通过设置与检测模块配合的升降机构，使得在热继电器生产流水线上，可以实时连贯地完成对热继电器双金属片位置的检测。 【专利类型】发明申请 【申请人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215121 江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】吴中区 【申请号】CN201210203990.X 【申请日】2012-06-20 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103512524A 【公开公告日】2014-01-15 【公开公告年份】2014 【IPC分类号】G01B21/00 【发明人】李佳 【主权项内容】一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：检测模块，所述检测模块用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，所述显示装置与所述检测模块电性连接，所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；升降机构，所述升降机构包括基台以及为所述基台提供上升及下降动力的升降泵，所述检测模块设置于所述基台上。 【当前权利人】苏州工业园区高登威科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元
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