【摘要】 本发明公开了一种用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统，包括光谱频带I相干层析成像系统、光谱频带II相干层析成像系统和中央处理器；中央处理器接收测量支I和测量支II干涉叠加数据通过公式进行分析处理；本发明能够拟合光源功率差异以及光电转换效率对检测结果的影响，避免现有技术中由于光源功率差异与光电探头对不同波长的光电转换效率问题导致的测量不准确和难以实现正确诊断的问题，利用同步采集的光谱频带I被检测体的反射强度归一化光谱频带II的反射光强，得到光谱频带II的相对反射率，确保了被检测体的反射率的准确测量，从而准确诊断早期病变，为被检测体早期病变的及时诊断和治疗提供理论依据。 【专利类型】发明授权 【申请人】无锡渝跃科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214125 江苏省无锡市滨湖区锦溪路100# 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201210040410.X 【申请日】2012-02-22 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102599883B 【公开公告日】2014-03-26 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102599883B 【授权公告日】2014-03-26 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】A61B3/14 【发明人】胡建明; 李建福 【主权项内容】一种用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统，其特征在于：包括相干层析成像系统Ⅰ、相干层析成像系统Ⅱ和中央处理器；所述相干层析成像系统Ⅰ和相干层析成像系统Ⅱ均对应包括：光源Ⅰ和光源Ⅱ，光源Ⅰ用于为相干层析成像系统Ⅰ提供光源，光源Ⅱ用于为相干层析成像系统Ⅱ提供光源，光源Ⅰ和光源Ⅱ波段不同；测量支Ⅰ和测量支Ⅱ，测量支Ⅰ用于将由光源Ⅰ耦合形成的信号光入射至被检测体并接收被检测体对信号光的反射光；测量支Ⅱ用于将由光源Ⅱ耦合形成的信号光入射至被检测体并接收被检测体对信号光的反射光；参考支Ⅰ和参考支Ⅱ，参考支Ⅰ用于传输由光源Ⅰ耦合形成的参考光并使该参考光与对应的测量支Ⅰ的反射光干涉叠加；参考支Ⅱ用于传输由光源Ⅱ耦合形成的参考光并使该参考光与对应的测量支Ⅱ的反射光干涉叠加；探测支Ⅰ和探测支Ⅱ，用于采集对应的测量支Ⅰ和测量支Ⅱ的反射光以及对应的参考支Ⅰ和参考支Ⅱ的参考光干涉叠加图像进行光电转化并传输至中央处理器进行分析处理；所述测量支Ⅰ与测量支Ⅱ通过耦合形成用于同步采集被检测体反射光的同一测量支；所述中央处理器接收探测支Ⅰ和探测支Ⅱ干涉叠加数据通过公式进行分析处理，其中Rx为被检测体的相对反射率，RI(x, y, λ1)为测量支Ⅰ在被检测体的反射率，RII(x, y, λ2)为测量支Ⅱ在被检测体的反射率，P1为测量支Ⅰ入射至被检测体的光强，P2为测量支Ⅱ入射至被检测体的光强，η1为测量支Ⅰ的光电转化效率，η2为测量支Ⅱ的光电转化效率，x、y为被检测体的平面坐标值，λ为光波长。FDA0000460817850000011.jpg 【当前权利人】无锡渝跃科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市滨湖区锦溪路100# 【专利权人类型】有限责任公司 【统一社会信用代码】9132021156296213XG 【引证次数】5.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】4

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