【摘要】 本发明涉及无损检测领域，尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层的涡流检测探头，包括绕组单元(2)和封装绕组单元的外壳(3)；所述绕组单元(2)包括磁芯(2-1)，绕在磁芯(2-1)上检测线圈(2-2)和绕在检测线圈(2-2)上的激励线圈(2-3)；所述外壳(3)的上部设有通孔(4)，下部设有空腔(5)；所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内；所述激励线圈(2-3)由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成；检测线圈(2-2)由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后，克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感，容易漏检的技术问题。 【专利类型】发明授权 【申请人】常州机电职业技术学院 【申请人类型】学校 【申请人地址】213164 江苏省常州市鸣新东路6号 【申请人地区】中国 【申请人城市】常州市 【申请人区县】武进区 【申请号】CN201210134755.1 【申请日】2012-05-03 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102645157B 【公开公告日】2014-07-09 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102645157B 【授权公告日】2014-07-09 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01B7/26 【发明人】金佳琳; 虞文武; 林俊明 【主权项内容】一种涡流检测探头，包括绕组单元(2)和封装绕组单元(2)的外壳(3)；所述绕组单元(2)包括磁芯(21)，绕在磁芯(21)上的检测线圈(22)和绕在检测线圈(22)上的激励线圈(23)；所述外壳(3)的上部设有通孔(4)，所述外壳(3)的下部设有空腔(5)；所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内；其特征在于：所述涡流检测探头适于检测材质为40Cr的回转支承淬透层，所述激励线圈(23)由直径为0.14～0.16mm的漆包铜线绕制445～450匝形成；检测线圈(22)由直径为0.05～0.07mm的漆包铜线绕制1400～1500匝形成。 【当前权利人】常州机电职业技术学院 【当前专利权人地址】江苏省常州市鸣新东路6号 【统一社会信用代码】123200004660069658 【引证次数】5.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】7

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