【摘要】 本发明公开了一种电离层参数短期预报的方法，包括：A、选取参与预报的k种预报方法；B、获取k种预报方法在当前时刻t的前M个相同时刻t1、t2、...tM，对n个单位时间后的电离层参数的预报值；C、获取在t1+n、t2+n、...tM+n时刻的电离层参数的实测值；D、根据实测值和在获取的预报值，计算k种预报方法的最佳权重；E、根据k种预报方法在t+n时刻的电离层参数的预报值和最佳权重，获取在t+n时刻的电离层参数的最终预报值。本发明能够综合使用几种预报方法进行预报，合理确定不同方法参与预报的权重，从而能够充分发挥各种预报方法的优势，确保达到最佳的预报性能，最终的预报精度将高于输入的任一单一模型。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国电子科技集团公司第二十二研究所 【申请人类型】企业 【申请人地址】266107 山东省青岛城阳仙山东路36号 【申请人地区】中国 【申请人城市】青岛市 【申请人区县】城阳区 【申请号】CN200910124601.2 【申请日】2009-12-17 【申请年份】2009 【公开公告号】CN106134464B 【公开公告日】2011-08-24 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN106134464B 【授权公告日】2011-08-24 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01W1/10 【发明人】冯静; 柳文; 孔庆颜 【主权项内容】一种电离层参数短期预报的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤A、选取参与预报的K种预报方法；步骤B、获取所述K种预报方法在当前时刻t的前M个相同时刻t1、t2、…tM，对n个单位时间后的电离层参数的预报值，所述n为预报时间提前量；步骤C、获取在t1+n、t2+n、…tM+n时刻的电离层参数的实测值；步骤D、根据所述实测值和在步骤B中获取的预报值，计算所述K种预报方法的最佳权重，使得所述K种预报方法以所述最佳权重参与预报时，得到的预报值与实测值误差最小；步骤E、根据所述K种预报方法在t+n时刻的电离层参数的预报值和所述最佳权重，获取在t+n时刻的电离层参数的最终预报值。 【当前权利人】中国电子科技集团公司第二十二研究所 【当前专利权人地址】山东省青岛城阳仙山东路36号 【专利权人类型】全民所有制 【统一社会信用代码】91410700417087690D 【被引证次数】7 【被自引次数】2.0 【被他引次数】5.0 【家族被引证次数】7

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