【摘要】 本发明涉及一种非接触式综合测量大型平板裂缝天线表面三维形貌和缝隙尺寸的方法及其系统。该系统的精密测距仪测量天线法向形貌，协同二维运动导轨的坐标值经计算机处理得到精确的三维形貌图，在扫描过程中，CCD完成天线局部图像的拍摄，完成扫描后，计算机系统对拍摄的图像进行图像拼接，完成缝隙尺寸的计算，协同二维运动导轨的坐标值，完成大型平板裂缝天线全场辐射缝尺寸的测量以及相互位置关系的测量，在表面形貌和缝隙尺寸精确测量的基础上，对比设计值完成缺陷区域查找。本发明可以一次同时测量出平板裂缝天线复杂表面形体的三维形貌特征和平面度及表面特征如辐射缝的几何尺寸以及相互位置关系；具有成本低廉、测量精度高、非接触测量和便携性好等特点。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国电子科技集团公司第十四研究所 【申请人类型】企业 【申请人地址】210013 江苏省南京市古平岗4号 【申请人地区】中国 【申请人城市】南京市 【申请人区县】鼓楼区 【申请号】CN200710082981.9 【申请日】2007-11-23 【申请年份】2007 【公开公告号】CN105519264B 【公开公告日】2011-11-30 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN105519264B 【授权公告日】2011-11-30 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G02B27/22; G01N21/88 【发明人】平丽浩; 钱吉裕; 柳玉书 【主权项内容】一种非接触式综合测量大型平板裂缝天线表面三维形貌和缝隙尺寸的方法，其特征在于：首先，精密测距仪与CCD共同固定在二维运动导轨上，该二维运动导轨在测量过程中平行于平板裂缝天线辐射面作二维扫描运动，其运动由计算机控制，控制位置精度达0.01mm；其次，固定于二维运动导轨上的精密测距仪测量探测点与被测平板裂缝天线表面的垂直距离，该距离协同由计算机控制的精密测距仪位置信息共同完成平板裂缝天线表面三维坐标值的测量，根据该三维坐标值即可完成三维形貌的生成，CCD完成局部平板裂缝天线图像的采集，对拍摄的图像进行图像拼接；再次，提取图像中的缝隙轮廓特征，并计算缝隙尺寸以及相互位置关系，完成平板裂缝天线表面辐射缝隙特征尺寸的测量以及相互位置关系的确定；最后，根据测量所得平板裂缝天线表面三维形貌、缝隙尺寸以及缝隙间相互位置关系与设计值进行比对，从而判断平板裂缝天线表面三维形貌、缝隙尺寸以及缝隙间相互位置关系的缺陷。 【当前权利人】中国电子科技集团公司第十四研究所 【当前专利权人地址】江苏省南京市古平岗4号 【被引证次数】8 【被他引次数】8.0 【家族被引证次数】8

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