【摘要】本发明提供一种芯片测试的方法和系统,方法包括:按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件;将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件,其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行,仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数
【摘要】 本发明涉及一种无基岛静电释放圈引线框结构及其生产方法,所述结构包括静电释放圈(1)和引脚(2),在所述静电释放圈(1)和引脚(2)的正面设置有第一金属层(4),在所述静电释放圈(1)和引脚(2)的背面设置有第二金属层(5),所述引脚(2)正面尽可能的延伸到静电释放圈(1)旁边,在所述引脚(2)外围的区域、引脚(2)与静电释放圈(1)之间的区域以及引脚(2)与引脚(2)之间的区域嵌置有无填料的塑封料(3),所述无填料的塑封料(3)将引脚下部外围、引脚(2)下部与静电释放圈(1)下部以及引脚(2)下部与引脚(2)下部连接成一体,且使所述静电释放圈(1)和引脚(2)背面尺寸小于静电释放圈(1)和引脚(1)正面尺寸。本发明的有益效果是:塑封体与金属脚的束缚能力大、降低成本、节能减碳以及减少废弃物。 【专利类型】发明授权 【申请人】江苏长电科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214434 江苏省江阴市开发区滨江中路275号 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】江阴市 【申请号】CN201010165884.8 【申请日】2010-04-30 【申请年份】2010 【公开公告号】CN101840901B 【公开公告日】2011-10-05 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN101840901B 【授权公告日】2011-10-05 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】H01L23/495; H01L23/31; H01L21/48 【发明人】王新潮; 梁志忠 【主权项内容】一种无基岛静电释放圈引线框结构,包括静电释放圈(1)和引脚(2),在所述静电释放圈(1)和引脚(2)的正面设置有第一金属层(4),在所述静电释放圈(1)和引脚(2)的背面设置有第二金属层(5),其特征在于:所述引脚(2)正面延伸到静电释放圈(1)旁边,在所述引脚(2)外围的区域、引脚(2)与静电释放圈(1)之间的区域以及引脚(2)与引脚(2)之间的区域嵌置有无填料的塑封料(3),所述无填料的塑封料(3)将引脚下部外围、引脚(2)下部与静电释放圈(1)下部以及引脚(2)下部与引脚(2)下部连接成一体,且使所述静电释放圈(1)和引脚(2)背面尺寸小于静电释放圈(1)和引脚(2)正面尺寸,形成上大下小的静电释放圈和引脚结构;所述引脚(2)的材料采用铜、铝、铁、铜合金或镍铁合金。 【当前权利人】江苏长电科技股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市江阴市江阴高新区长山路78号 【专利权人类型】股份有限公司(上市、自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91320200142248781B 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】20
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