【摘要】 本发明提供一种芯片测试的方法和系统，方法包括：按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。本发明能够减少测试向量源文件的体积，节省内存提高ATE的测试速度，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和内存资源，测试效率低下的技术问题。。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡中星微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214028 中国江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦)610 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】江阴市 【申请号】CN201010195431.X 【申请日】2010-05-31 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102262208A 【公开公告日】2011-11-30 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102262208B 【授权公告日】2015-11-25 【授权公告年份】2015.0 【IPC分类号】G01R31/28 【发明人】胡伟锋 【主权项内容】一种芯片测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。 【当前权利人】无锡中感微电子股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层 【专利权人类型】股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】913202006925820711 【引证次数】6.0 【被引证次数】9 【他引次数】6.0 【被他引次数】9.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】9

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