【摘要】 本发明公开了一种基于波长修正的分光光度计仪器间误差校准方法。该方法通过对分光光度计仪器间的漂移误差、线性误差、非线性误差进行建模，利用两台分光光度计测得的校准样本的标准光谱和测试光谱，采用最小二乘法拟合优化出各波长的修正系数，从而校准了分光光度计仪器间的误差，即将测试分光光度计测得的光谱数据校准到标准分光光度计测得的光谱数据。该发明应用简单、精度高、具有很高的实用价值。 【专利类型】发明申请 【申请人】岑夏凤 【申请人类型】个人 【申请人地址】315332 浙江省慈溪市附海镇花塘村三角田 【申请人地区】中国 【申请人城市】宁波市 【申请人区县】慈溪市 【申请号】CN201210566438.7 【申请日】2012-12-05 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103542932A 【公开公告日】2014-01-29 【公开公告年份】2014 【IPC分类号】G01J3/00; G01J3/46 【发明人】岑夏凤 【主权项内容】1.一种基于波长修正的分光光度计仪器间误差校准方法，其特征在于包括以下步骤：1)选取n个基本覆盖各个色区的校准样本，可采用自制的样本或相关的国际标准色卡；2)选取两台分光光度计，其中一台作为标准分光光度计，测量校准样本得到标准光谱，记为RS，λ，1、RS，λ，2、...、RS，λ，n，其中下标S表示标准光谱，下标λ表示测量波长，下标n表示第n个校准样本；将另外一台作为测试分光光度计，测量校准样本得到测试光谱，记为RT，λ，1、RT，λ，2、...、RT，λ，n，其中下标T表示测试光谱，下标λ和n的意义与标准光谱相同；3)假定相同波长λ的标准光谱和测试光谱满足下式，之后取相同波长λ的所有标准光谱和测试光谱数据，对下式进行拟合，采用最小二乘法计算得波长为λ时的修正系数aλ、bλ和cλ。对于每一个波长，均可采用相同的方法拟合计算出对应的修正系数a、b和c；RS，λ＝aλ+bλ×RT，λ+cλ×(1-RT，λ)×RT，λ其中，第一项a表示漂移误差，第二项b×RT，λ表示线性误差，第三项c×(1-RT，λ)×R T，λ表示非线性误差；4)对任一经测试分光光度计测量得到的光谱数据R’T，λ，，可根据对应的修正系数aλ、bλ和cλ进行波长修正，见下式，得最终校准后的光谱数据R*T，λ。R*T，λ＝aλ+bλ×R′T，λ+cλ×(1-R′T，λ)×R′T，λ。 【当前权利人】岑夏凤 【当前专利权人地址】浙江省慈溪市附海镇花塘村三角田 【引证次数】2.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】2.0

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