【摘要】一种冰冻固结磨料抛光垫承载装置及其抛光垫,包括刚度提供层(1)和隔热层(2),其特征是隔热层(2)在刚度提供层之上(1),并且两者的直径相同。刚度提供层(1)整体形状为“翼形”,隔热层(2)使用聚四氟乙烯等隔热材料,并且在其表面开有
【摘要】 一种基于PXI总线的数字测试模块,其FPGA功能电路部分包括总线接口控制单元、中央译码控制单元、地址产生单元、时钟选择单元、ZBTRAM控制单元、多模块同步控制单元、触发控制单元;数据通过PXI总线经过PXI接口电路传送给FPGA功能电路,然后存入数据输出SRAM和数据输入输出控制SRAM中;使用者确定的控制命令通过PXI总线发送到数字测试模块;最后数据输入SRAM、输入输出控制SRAM、数据输出SRAM在同一个时钟节拍下协同工作,数据经过输出驱动器和信号连接器发到指定的数字电路中,与此同时采集响应数据经过输入驱动器储存在数据输入SRAM中;测试完毕后把数据输入SRAM中的数据上传到上位机上。 【专利类型】实用新型 【申请人】中国电子科技集团公司第十四研究所 【申请人类型】企业 【申请人地址】210039 江苏省南京市雨花开发区国睿路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】南京市 【申请人区县】雨花台区 【申请号】CN201020615565.8 【申请日】2010-11-19 【申请年份】2010 【公开公告号】CN201886122U 【公开公告日】2011-06-29 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN201886122U 【授权公告日】2011-06-29 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01R31/28; G01R31/3177 【发明人】郭敏敏; 梅敏鹏; 冯民芳; 白雪; 张红兵 【主权项内容】1.一种基于PXI总线的数字测试模块,其特征在于:包括实现与PXI总线可靠通讯的PXI接口电路、EEPROM、FPGA功能电路部分、DDS模块、数据输入SRAM、输入输出控制SRAM、数据输出SRAM、输出驱动器、输入驱动器、信号连接器; PXI接口电路利用PCI9030芯片构造PXI接口, 负责把PXI总线上的数据和命令传送到模块的FPGA功能电路,并且把模块中的数据和对处理器的请求传送到PXI总线;PXI总线的地址总线、数据总线、控制总线经过 PCI9030之后,简化为简单的本地控制逻辑输出本地地址总线、数据总线、控制总线和FPGA功能电路进行通讯;EEPROM用于存储PXI接口电路的初始化信息,并在系统复位后为PXI接口电路装入初始化信息,初始化PXI接口电路的配置寄存器;PXI背板触发总线和PXI星型触发线传送到FPGA功能电路; FPGA功能电路部分包括总线接口控制单元、中央译码控制单元、地址产生单元、时钟选择单元、ZBT RAM控制单元、多模块同步控制单元、触发控制单元;DDS模块接收FPGA功能电路提供的数据与参考时钟,为系统工作提供可调节的输出时钟;数据输入SRAM、输入输出控制SRAM、数据输出SRAM完成输入数据、输出数据、位控数据的存储与收发;三片SRAM的时钟控制线、数据线、地址线都是由FPGA功能电路部分里的ZBT RAM控制单元产生;输出驱动器和输入驱动器,用于确保激励输出有较大的驱动电流和激励响应之间的高速切换;信号连接器用于信号的输入输出;控制软件在主控计算机上运行,测试数据和位控数据在计算机上编辑或由波形生成工具生成;数据通过PXI总线经过PXI接口电路传送给FPGA功能电路,然后存入数据输出SRAM和数据输入输出控制SRAM中;使用者确定的数据发送速率、数据长度、数据内容和输出起始位置、触发方式的控制命令通过PXI总线发送到数字测试模块;最后数据输入SRAM、输入输出控制SRAM、数据输出SRAM在同一个时钟节拍下协同工作,数据经过输出驱动器和信号连接器发到指定的数字电路中,与此同时采集响应数据经过输入驱动器储存在数据输入SRAM中;测试完毕后把数据输入SRAM中的数据上传到上位机上。 【当前权利人】中国电子科技集团公司第十四研究所 【当前专利权人地址】江苏省南京市雨花开发区国睿路8号 【被引证次数】24 【被他引次数】24.0 【家族被引证次数】24
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