【摘要】 本发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1、对金箔样品进行前处理；步骤2、轧紧金箔样品；步骤3、仪器测试。本发明通过对金箔样品进行前处理，再用X荧光光谱法测试，一方面解决了有损方法带来的样品称量误差的问题，另一方面更是很好的克服了金箔样品厚度薄，在X荧光光谱仪测试中易被X荧光光束击穿，导致数据失真的缺陷，具有快速、准确、无损耗的优点。。 【专利类型】发明申请 【申请人】南京市产品质量监督检验院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】210028 江苏省南京市红山路168号 【申请人地区】中国 【申请人城市】南京市 【申请人区县】玄武区 【申请号】CN201010578703.4 【申请日】2010-12-08 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102128850A 【公开公告日】2011-07-20 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102128850B 【授权公告日】2012-08-01 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01N23/223 【发明人】伏荣进; 周骏贵; 王东辉 【主权项内容】一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1、对金箔样品进行前处理：1)选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置上，然后将衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；2)将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；3)依此类推，重复步骤1)及步骤2)将金箔共折叠八次，制成金箔样品；步骤2、轧紧金箔样品：将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片；步骤3、仪器测试：将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。 【当前权利人】深圳市宁深检验检测技术有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市罗湖区翠竹街道水贝一路金展珠宝广场19楼 【统一社会信用代码】12320100425802498N 【引证次数】1.0 【被引证次数】4 【他引次数】1.0 【被自引次数】2.0 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】4

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