【摘要】 本发明提供一种存储器的自检测电路，其中所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式，所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器，所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口，所述测试接口将所述测试数据存入存储器中，所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器，所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配，所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据，所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据。 。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡中星微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214028 江苏省无锡市新区太湖国际科技园清嘉路530大厦10层 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201010539842.6 【申请日】2010-11-10 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102013274A 【公开公告日】2011-04-13 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102013274B 【授权公告日】2013-08-07 【授权公告年份】2013.0 【发明人】董欣; 邹杨 【主权项内容】一种存储器的自检测电路，其包括数据生成器、数据比较器、地址生成器、地址选择器、寄存器组、控制信号发生器以及测试接口，其特征在于：所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式，所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器，所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口，所述测试接口将所述测试数据存入存储器中，所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器，所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配，所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据，所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据。 【当前权利人】无锡中感微电子股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层 【专利权人类型】股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】913202006925820711 【被引证次数】14 【被他引次数】14.0 【家族被引证次数】14

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