【摘要】 本发明公开了一种测试功能覆盖的方法，用于实现较完整的功能覆盖测试，提高功能覆盖测试的准确性。所述方法包括：通过测试向量对测试点进行测试，并存储被覆盖的测试点的测试标志码；将存储的所有需参与测试的测试点的测试标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配；如果需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。本发明还公开了用于实现所述方法的装置。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡中星微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214028 江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦)610 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201010163001.X 【申请日】2010-04-29 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102236729A 【公开公告日】2011-11-09 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102236729B 【授权公告日】2016-06-22 【授权公告年份】2016.0 【IPC分类号】G06F17/50; G01R31/28 【发明人】李树杰 【主权项内容】一种测试功能覆盖的方法，其特征在于，包括以下步骤：通过测试向量对测试点进行测试，并存储被覆盖的测试点的测试标志码；将存储的所有需参与测试的测试点的测试标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配；如果需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。 【当前权利人】无锡中感微电子股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层 【专利权人类型】股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】913202006925820711 【引证次数】5.0 【被引证次数】4 【他引次数】5.0 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】4

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