【摘要】 本发明提供一种芯片测试的方法和装置，所述方法用于自动测试设备，包括如下步骤：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试，从而省去测试中所述没有实际输入或输出的管脚描述信息所占用的资源。本发明能够节省ATE的资源提高测试效率，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和资源，测试效率低下的技术问题。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡中星微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214028 中国江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦)610 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】江阴市 【申请号】CN201010165354.3 【申请日】2010-04-30 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102236068A 【公开公告日】2011-11-09 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102236068B 【授权公告日】2015-11-25 【授权公告年份】2015.0 【IPC分类号】G01R31/28 【发明人】胡伟锋 【主权项内容】一种芯片测试的方法，用于自动测试设备，其特征在于，包括如下步骤：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。 【当前权利人】无锡中感微电子股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层 【专利权人类型】股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】913202006925820711 【引证次数】6.0 【被引证次数】7 【他引次数】6.0 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】7

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