【摘要】 本发明涉及一种图像品质的判断方法，其包括如下步骤：a、从光学传感器撷取图像数据，图像数据的大小为M×N；b、将图像划分成若干个Pi×Qj的图像块，其中，i∈{1，2，Λm}，j∈{1，2，Λ，n}，c、根据每个划分Pi×Qj大小的图像块，选择相应的比较参数Cij，其中，Cij为所述Pi×Qj大小图像块的灰度平均值、灰度最大值或灰度最小值；将Pi×Qj大小图像块的像素特征值Pix与比较参数Cij作差，并求相应差的绝对值，且计算Pi×Qj个绝对值的和Sij；d、根据步骤c得到的Pi×Qj图像块绝对值的和Sij，计算图像数据的所有绝对值的和SMN；e、将得到的SMN与设定值TH相比较，当SMN大于TH时，判断所述图像数据的品质好，否则判断所述图像数据的品质差。本发明工艺步骤简单，判断准确性好，适用范围广，定位精确。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡银泰微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214128 江苏省无锡市新区(新安街道)震泽路18号无锡国家软件园狮子座A区3楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】新吴区 【申请号】CN201010614289.8 【申请日】2010-12-30 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102143378A 【公开公告日】2011-08-03 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102143378B 【授权公告日】2012-11-28 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】H04N17/00 【发明人】吴阳霖 【主权项内容】1.一种图像品质的判断方法，其特征是，所述图像品质的判断方法包括如下步骤：(a)、从光学传感器撷取图像数据，所述图像数据的大小为M×N；(b)、将上述图像划分成若干个Pi×Qj的图像块，其中，i∈{1，2，Λ m}，j∈{1，2，Λ，n}，(c)、根据每个划分Pi×Qj大小的图像块，选择相应的比较参数Cij，其中，Cij为所述Pi×Qj大小图像块的灰度平均值、灰度最大值或灰度最小值；将所述Pi×Qj大小图像块的像素特征值Pix与相应的比较参数Cij作差，并求相应差的绝对值，且计算Pi×Qj个绝对值的和Sij；(d)、根据步骤(c)得到的Pi×Qj图像块绝对值的和Sij，计算图像数据的所有绝对值的和SMN；(e)、将得到的SMN与设定值TH相比较，当SMN大于TH时，判断所述图像数据的品质好，否则判断所述图像数据的品质差。 【当前权利人】江苏钜芯集成电路技术股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市新区震泽路18号无锡软件园巨蟹座C幢一层 【专利权人类型】有限责任公司 【引证次数】3.0 【被引证次数】3 【他引次数】3.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】3

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