【摘要】 红外序列图像历史趋势分析方法，属于设备故障诊断领域，解决红外热图像配准问题，此基础上进行历史趋势分析。本发明步骤为：1将待分析设备不同时期拍摄的红外热图像整理到一个分析文件夹中；2用户手工输入定位点，利用仿射变换矩阵、投影变换矩阵或二次型变换矩阵，然后用双线性内插，对图像几何校正，按照参考图像的空间位置配准；3利用热像仪“面扫描”的特点，在图像上，得到各兴趣点位置及温度，绘出并显示该设备在此兴趣点不同时期温度的变化曲线图。本发明实现了设备红外热图的历史趋势分析，为红外热像仪增添动态分析能力；还可以通过与历史温度变化情况的比较观察出异常的温度变化发现故障早期征兆，防范于未然。 【专利类型】发明申请 【申请人】华中科技大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】430074湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 【申请人地区】中国 【申请人城市】武汉市 【申请人区县】洪山区 【申请号】CN200410061383.X 【申请日】2004-12-17 【申请年份】2004 【公开公告号】CN100383502C 【公开公告日】2008-04-23 【公开公告年份】2008 【授权公告号】CN100383502C 【授权公告日】2008-04-23 【授权公告年份】2008.0 【IPC分类号】G01J5/00; G06F3/00; G06K9/20 【发明人】王晓宇; 陈吉红; 彭芳瑜; 黄植红 【主权项内容】1.一种红外序列图像历史趋势分析方法，依序包括下述步骤： (1)将待分析设备的不同时期拍摄的红外热图像整理到一个分析 文件夹中； (2)用户手工输入定位点，利用仿射变换矩阵、投影变换矩阵或二 次型变换矩阵，然后用双线性内插方法，执行几何校正操作，对上述图 像几何校正，将这些图像按照参考图像的空间位置配准； (3)利用热像仪“面扫描”的特点，在图像上，得到各兴趣点位 置及温度，绘出并显示该设备在此兴趣点不同时期温度的变化曲线图。 【当前权利人】华中科技大学 【当前专利权人地址】湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 【专利权人类型】集体所有制 【统一社会信用代码】12100000441626842D 【引证次数】6.0 【他引次数】6.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】8.0

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