【专利类型】外观设计【申请人】李美子【申请人类型】个人【申请人地址】100024北京市朝阳区管庄京通苑7号楼1503室【申请人地区】中国【申请人城市】北京市【申请人区县】朝阳区【申请号】CN98314181.9【申请日】1998-09-28
【摘要】 一种双标准尺比长仪属于长度计量领域中的一 种测量线位移传感器的长度计量装置。采用相同规格的两把标 准尺平行对称置于被测线位移传感器两测结构, 可消除阿贝误 差带来的对测量结果的影响, 能够分段滑动测量远比标准尺长 度长得多的线位移传感器。具有很高的实用价值。 【专利类型】实用新型 【申请人】中国科学院长春光学精密机械研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】130022吉林省长春市人民大街140号 【申请人地区】中国 【申请人城市】长春市 【申请人区县】二道区 【申请号】CN98233410.9 【申请日】1998-11-26 【申请年份】1998 【公开公告号】CN2349532Y 【公开公告日】1999-11-17 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN2349532Y 【授权公告日】1999-11-17 【授权公告年份】1999.0 【IPC分类号】G01B5/02 【发明人】董德水; 李松泽; 周浩 【主权项内容】1、一种双标准尺比长仪,是由标准尺、被测线位移传感器、 工作台面组成的,其特征在于相同规格的两把标准尺4,分别置于 被测线位移传感器5的两侧并与其平行对称分布,相同规格的两把 标准尺4固定在工作台面6上,被测线位移传感器5与工作台面6 之间沿长度方向左右滑动。。 【当前权利人】中国科学院长春光学精密机械研究所 【当前专利权人地址】吉林省长春市人民大街140号
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