【摘要】 本发明公开了一种基于相控超声波的缺陷分类方法，本发明应用相控超声检测仪对试块的无缺陷和有缺陷区域进行检测，获得S扫描图；然后利用小波变换对没有缺陷和有缺陷区域的S扫描图进行三层分解，得到S扫描图的小波各层阈值；并以S扫描图的小波各层阈值建立特征向量数据库X，最后利用聚类分析方法中的欧式距离法确定有无缺陷。本发明可快速、准确地实现对有无缺陷S扫描图的分类，从而实现对试块缺陷的自动分类，具有一定的市场应用前景。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国计量学院 【申请人类型】学校 【申请人地址】310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 【申请人地区】中国 【申请人城市】杭州市 【申请人区县】上城区 【申请号】CN201210109415.3 【申请日】2012-04-16 【申请年份】2012 【公开公告号】CN102621221B 【公开公告日】2014-03-12 【公开公告年份】2014 【授权公告号】CN102621221B 【授权公告日】2014-03-12 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01N29/04 【发明人】王强; 肖琨; 马冶浩; 胡栋 【主权项内容】1.一种基于相控超声波的缺陷分类方法，其特征在于该方法包括以下步骤： 步骤一：选择试块和楔块，对相控超声检测仪进行声速校准、楔块延时校准、灵敏度校准及编码器校准； 步骤二：利用相控超声检测仪分别对试块没有缺陷和有缺陷区域进行检测，分别采集试块没有缺陷区域的多张S扫描图，试块有缺陷区域的多张S扫描图，超声探头的扫描角度为30度-70度，聚焦深度100mm，抑制15%，增益-18dB； 步骤三：利用小波对试块没有缺陷和有缺陷区域的S扫描图进行三层小波分解，小波函数族的表达式如下： 式中，是小波函数的母小波函数，是由母小波函数平移和缩放构成的小波函数族，s为尺度因子，b为平移因子，通过对母小波函数平移与尺度缩放，使小波函数与分析对象在每一时刻逼近；采用sym4小波函数作为小波母函数，使用推荐参数alpha=1.5，对没有缺陷和有缺陷区域的S扫描图进行三层小波分解，并得到S扫描图的小波三层阈值； 步骤四：以试块没有缺陷和有缺陷区域S扫描图的小波各层阈值建立特征向量数据库X，用于缺陷分类，X的表达式如下： 式中，xkp(k≤n，p≤3) 是数据库X中第k个S扫描图的第p层阈值； 步骤五：以特征向量数据库X为基础，利用欧式距离法对试块没有缺陷和有缺陷区域进行分类，特征向量数据库X中的样本xi和xj的距离可以用dij来表示，公式如下： 式中：xia和xja表示样本xi和xj在第a层的阈值； 若样本间距离dij小于1.5，则被归为一类，样本间距离dij大于1.5，则被归为另一类。 【当前权利人】中国计量学院 【当前专利权人地址】浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 【统一社会信用代码】123300004700090698 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】9

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