【摘要】 一种断层扫描量测系统的校正方法，包括以下步骤：第一步：提供一量测系统，所述量测系统为CT或AXI量测系统；第二步：提供一金属的圆台，所述圆台的上端面直径d、下端面直径D及圆台的高度H为已知；第三步：利用CT或AXI量测系统通过断层扫描测出所述圆台其它部位截圆的直径d’；第四步：根据圆台的直径与高度呈线性的比例关系，所述量测系统设定有∮d’=(∮D+∮d)×h/H的计算程序，通过所述程序计算出截圆直径为d’处所对应的高度h；第五步：进一步扫描出多处截圆直径，并计算出该等截圆处对应的圆台的高度，确认所述断层扫描量测系统的线性值。藉此，使得断层扫描量测系统的量取精度更精准。 【专利类型】发明申请 【申请人】富士康(昆山)电脑接插件有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215316 江苏省苏州市昆山市玉山镇北门路999号 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】昆山市 【申请号】CN201210538226.8 【申请日】2012-12-13 【申请年份】2012 【公开公告号】CN103868452A 【公开公告日】2014-06-18 【公开公告年份】2014 【IPC分类号】G01B11/00; G01B11/08 【发明人】林世长; 刘旭智; 王裕民 【主权项内容】一种断层扫描量测系统的校正方法，包括以下步骤：(1)提供一量测系统，所述量测系统为CT或AXI量测系统；(2)提供一金属的圆台，所述圆台的上端面直径d、下端面直径D及圆台的高度H为已知；(3)利用CT或AXI量测系统通过断层扫描测出所述圆台其它部位截圆的直径d’；(4)根据圆台的直径与高度呈线性的比例关系，所述量测系统设定有∮d’=(∮D+∮d)×h/H的计算程序，通过所述程序计算出截圆直径为d’处所对应的高度h；(5)进一步扫描出多处截圆直径，并计算出该等截圆处对应的圆台的高度，确认所述断层扫描量测系统的线性值。 【当前权利人】富士康(昆山)电脑接插件有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市昆山市玉山镇北门路999号; 中国台湾新北市土城区中山路66号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】91320583608278190T 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族被引证次数】2

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