【摘要】 一种基于相位编码技术的光学三维测量方法，属三维测量技术领域。由以下步骤组成：(1)计算机生成光栅编码条纹图像；(2)用数字投影设备投射光栅编码条纹图像；(3)采集光栅条纹图像并利用相移算法进行编码求解和三维测量；其特征在于：步骤(1)中生成的所述光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素个数等于所采用的相移算法步数；且所述光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素灰度需满足正弦或余弦曲线分布，且像素灰度值为相应正弦或余弦函数的极值点。本方法相对传统正弦相移编码方法，对数字投影设备的伽玛非线性影响具有更强的抗干扰性，编码具有更高稳定性、可靠性和正确性，在物体表面光学三维轮廓精确测量方面有着重要作用。 【专利类型】发明授权 【申请人】南京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】210016 江苏省南京市白下区御道街29号 【申请人地区】中国 【申请人城市】南京市 【申请人区县】玄武区 【申请号】CN201010190225.X 【申请日】2010-06-02 【申请年份】2010 【公开公告号】CN101881605B 【公开公告日】2011-11-30 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN101881605B 【授权公告日】2011-11-30 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01B11/25 【发明人】崔海华; 戴宁; 程筱胜; 廖文和 【主权项内容】一种基于相位编码技术的光学三维测量方法，由以下步骤组成：(1)、计算机生成光栅编码条纹图像；(2)、使用数字投影设备投射光栅编码条纹图像；(3)、采集光栅条纹图像并利用相移算法进行编码求解和三维测量；其特征在于：步骤(1)中生成的所述的光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素个数等于所采用的相移算法步数；且所述的光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素灰度需满足正弦或余弦曲线分布，并且像素灰度值为相应正弦或余弦函数的极值点。 【当前权利人】南京航空航天大学 【当前专利权人地址】江苏省南京市白下区御道街29号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000466006826U 【引证次数】4.0 【被引证次数】3 【自引次数】1.0 【他引次数】3.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】47

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