【摘要】一种方便划直线的尺,由尺体、平行线条组成,其特征在于:在尺体(1)上侧,制有常规的刻度(2),在刻度下方制有4-12条凹下的平行线,线距在1-5mm。本实用新型解决了,目前的尺划平行麻烦、不易划正确之不足,具有划线快速方便、结构简单
【摘要】 本发明公开了一种光纤型激光自混合干涉仪及其测量方法,属于位移精密测量领域。干涉仪包括分布反馈半导体激光器、保偏光纤耦合器、线内起偏器、单模光纤、电光调制器、光纤光栅、梯度折射率透镜,试件、光电探测器、数据采集与处理系统、光纤夹持器、一维导轨、二维精密平移台、显微镜、底座、支架和信号发生器。光纤光栅和试件分别与激光器的出射端面构成参考外腔和测量外腔,产生两重外腔自混合干涉现象,数据采集与处理系统采用正交解调技术分析得到的自混合信号,最后可以计算得出试件的位移量。本发明的光纤干涉仪结构很适用于微机械和MEMS器件的纳米级位移和振动的测量,更接近实用化。 【专利类型】发明申请 【申请人】南京师范大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】210046 江苏省南京市亚东新城区文苑路1号行健楼403 【申请人地区】中国 【申请人城市】南京市 【申请人区县】栖霞区 【申请号】CN201010275001.9 【申请日】2010-09-08 【申请年份】2010 【公开公告号】CN101949685A 【公开公告日】2011-01-19 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN101949685B 【授权公告日】2011-11-16 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01B9/02; G01B11/02 【发明人】王鸣; 夏巍 【主权项内容】光纤型激光自混合干涉仪,其特征在于:所述干涉仪包括分布反馈半导体激光器(1)、保偏光纤耦合器(2)、线内起偏器(3)、单模光纤(4)、电光调制器(5)、光纤光栅(6)、梯度折射率透镜(7),试件(8)、光电探测器(9)、数据采集与处理系统(10)、光纤夹持器(11)、一维导轨(12)、二维精密平移台(13)、显微镜(14)、底座(15)、支架(16)和信号发生器(17),所述一维导轨(12)、二维精密平移台(13)、试件(8)依次固定在所述底座(15)的中心,所述支架(16)固定在所述底座(15)的两侧,所述显微镜(14)和光纤夹持器(11)装在所述支架(16)上,所述单模光纤(4)依次连接所述激光器(1)、保偏光纤耦合器(2)、线内起偏器(3)、电光调制器(5)、光纤光栅(6)和梯度折射率透镜(7),并由所述光纤夹持器(11) 固定,所述信号发生器(17)的输出端与所述电光调制器(5)连接。 【当前权利人】南京师范大学 【当前专利权人地址】江苏省南京市亚东新城区文苑路1号行健楼403 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】123200004660067976 【引证次数】7.0 【被引证次数】21 【自引次数】1.0 【他引次数】6.0 【被自引次数】3.0 【被他引次数】18.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】21
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