【摘要】 ITO膜导通测试仪，包括支撑平台，安装在支撑平台上的可上下移动的承载板和压板，压板位于承载板上方；在支撑平台上安装有排列成两排的突出支撑平台的数组测试探针，每组测试探针的两个测试探针之间电连接，在每组测试探针之间还串联有一测试报警灯；在承载板上开设有和测试探针相对应的针孔；承载板向下位移时，测试探针会穿过针孔并高出承载板的上表面。其结构简单，可快速定位测试，操作简单，节约操作时间，可进行量产化测试，且避免了产品的刮伤、污染不良现象。 【专利类型】实用新型 【申请人】苏州键烁电子科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】215128 江苏省苏州市吴中经济开发区兴中路28号A栋 【申请人地区】中国 【申请人城市】苏州市 【申请人区县】吴中区 【申请号】CN201020591643.5 【申请日】2010-11-04 【申请年份】2010 【公开公告号】CN201852902U 【公开公告日】2011-06-01 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN201852902U 【授权公告日】2011-06-01 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01R31/02; G01R1/04 【发明人】姜波 【主权项内容】ITO膜导通测试仪，包括支撑平台、承载板；特征在于：所述支撑平台，在其上安装有排列成两排的突出所述支撑平台的数组测试探针，所述每组测试探针由两个位于不同排中的测试探针组成；所述每组测试探针的两个测试探针之间电连接，在每组测试探针之间还串联有一测试报警灯，所述测试报警灯依次安装在所述支撑平台上的一侧；所述每组测试探针分别与一电源电连接；所述承载板，以可上下位移的方式水平安装在所述支撑平台上方，并且位于所述两排测试探针的上方，在所述承载板上开设有和所述两排测试探针位置和数量均相对应的针孔；在所述承载板向下位移时，所述两排测试探针会穿过所述承载板上的针孔并使测试探针上端高出所述承载板的上表面。 【当前权利人】苏州键烁电子科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市吴中经济开发区兴中路28号A栋 【专利权人类型】港、澳、台 【统一社会信用代码】913205006744034716 【被引证次数】4 【被他引次数】4.0 【家族被引证次数】4

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