【摘要】 本发明公开一种智能测试接口适配器，该适配器为长方盒体由通用适配板(1)、内部转接板(2)等组成；通用适配板(1)置于智能测试接口适配器的上面板上，内部转接板(2)、高频测试组合(5)和开关阵列(7)置于智能测试接口适配器内；智能测试接口需与左面板上的高频标准测试接口(3)插接，中低频标准测试接口(8)螺钉固定于后面板上；通用适配板(1)、内部转接板(2)、高频测试组合(5)、适配器前面板(6)等完成各部分间的相互插接。本发明利用人工、自动相结合的方式，充分利用自动测试系统高频、中低频仪器资源，能够实现对被测对象针脚所需仪器资源的自由配置，可以大大减少通用转接板、转接电缆的数量，提高测试效率。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京航天测控技术有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100041 北京市石景山区实兴东街3号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】石景山区 【申请号】CN200610056582.0 【申请日】2006-08-11 【申请年份】2006 【公开公告号】CN105659851B 【公开公告日】2011-03-30 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN105659851B 【授权公告日】2011-03-30 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01R31/00; G01R1/02 【发明人】余红; 于功敬; 王振华; 史慧; 郑永丰; 王宏伟; 程橙; 赵军; 孟旭; 刘建妥; 齐博蕾; 方峰; 曹爱东 【主权项内容】1.一种智能测试接口适配器由通用适配板(1)、内部转接板(2)、高频标准测试接口(3)、高频测试组合(5)、开关阵列(7)、中低频标准测试接口(8)组成；其特征在于通用适配板(1)置于智能测试接口适配器的上面板上，内部转接板(2)，高频测试组合(5)和开关阵列(7)置于智能测试接口适配器内；智能测试接口需与左面板上的高频标准测试接口(3)插接，通用适配电缆与前面板上的通用适配电缆接口插接，标准测试接口螺钉固定于前面板上，中低频标准测试接口(8)螺钉固定于后面板上；该适配器为长方盒体；通用适配板(1)、内部转接板(2)、高频测试组合(5)、适配器前面板(6)、开关阵列(7)、中低频标准测试接口(8)完成各部分间的相互插接。 【当前权利人】北京航天测控技术有限公司 【当前专利权人地址】北京市石景山区实兴东街3号 【专利权人类型】有限责任公司(法人独资) 【统一社会信用代码】91110107101901035B

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