【摘要】 本发明公开了一种用于MicroSD型无线网卡的测试装置和方法，其中该测试装置包括：微带定向耦合器，包括两条平行的第一微带线和第二微带线，其中，第一微带线的一端与MicroSD型无线网卡的收/发开关相连接，其另一端与MicroSD型无线网卡的天线相连接，第二微带线的一端通过电阻接地，其另一端与射频测试馈点相连接，用于通过第一微带线和第二微带线将射频链路的信号引出或将输入测试信号引入射频链路的接收通路；测试座，用于分别根据射频链路的信号或输入测试信号对MicroSD型无线网卡的性能参数进行测试。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡中科龙泽信息科技有限公司; 中科芯集成电路股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214072 江苏省无锡市蠡园开发区滴翠路100号530大厦2号楼18层 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201010209807.8 【申请日】2010-06-25 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102209005A 【公开公告日】2011-10-05 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102209005B 【授权公告日】2016-02-17 【授权公告年份】2016.0 【IPC分类号】H04L12/26 【发明人】杨延辉; 郭刚; 王峥 【主权项内容】一种用于MicroSD型无线网卡的测试装置，其特征在于，包括：微带定向耦合器，包括两条平行的第一微带线和第二微带线，其中，所述第一微带线的一端与所述MicroSD型无线网卡的收/发开关相连接，其另一端与所述MicroSD型无线网卡的天线相连接，所述第二微带线的一端通过电阻接地，其另一端与射频测试馈点相连接，用于通过所述第一微带线和第二微带线将射频链路的信号引出或将输入测试信号引入所述射频链路的接收通路；测试座，用于分别根据所述射频链路的信号或所述输入测试信号对所述MicroSD型无线网卡的性能参数进行测试。 【当前权利人】无锡中科龙泽信息科技有限公司; 中科芯集成电路股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市蠡园开发区滴翠路100号530大厦2号楼18层; 江苏省无锡市滨湖区蠡园开发区04-6地块(滴翠路100号)9幢2层 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股); 股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】9132021169028496X2; 91320200680526398R 【引证次数】6.0 【被引证次数】3 【他引次数】6.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】3

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