【摘要】 本实用新型公开了一种直列式二极管晶粒测分设备，包括机身、测试电脑，机身上设置有工作台面，工作台面上设置有列式晶粒吸盘, 工作台面上列式晶粒吸盘的后侧设置有晶粒顶针，工作台面上晶粒顶针的后侧设置有晶粒分级盒的落料槽，晶粒分级盒设置在工作台面的下方，机身上工作台面的上方两侧设置有滑动导轨，滑动导轨上设置有可与其相对滑动的移动单元，所述移动单元的下端面上设置有晶粒吸嘴，移动单元的上方为机台控制盒，机台控制盒通过连线与移动单元连接。采用晶粒吸嘴从直列式晶粒吸盘吸取晶粒，移动至晶粒顶针处通过测试电脑进行测试，测试后晶粒按等级排入相关晶粒分级盒；减少了晶粒的运动时间，节省了晶粒的测试时间，晶粒测分效率大幅提升，晶粒通过真空吸取，未与震动轨道的金属层摩擦，减少了晶粒外观损伤，提升了晶粒品质。 【专利类型】实用新型 【申请人】强茂电子(无锡)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214028 江苏省无锡市国家高新技术开发区汉江路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】滨湖区 【申请号】CN201020551318.6 【申请日】2010-10-05 【申请年份】2010 【公开公告号】CN201853683U 【公开公告日】2011-06-01 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN201853683U 【授权公告日】2011-06-01 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】H01L21/66 【发明人】林加斌; 许资彬 【主权项内容】1.一种直列式二极管晶粒测分设备，包括机身(18)、测试电脑(15)，机身(18)上设置有工作台面(17)，其特征在于：所述工作台面(17)上设置有列式晶粒吸盘(8), 工作台面(17)上列式晶粒吸盘(8)的后侧设置有晶粒顶针(13)，工作台面(17)上晶粒顶针(13)的后侧设置有晶粒分级盒(14)的落料槽(19)，晶粒分级盒(14)设置在工作台面(17)的下方，机身(18)上工作台面(17)的上方两侧设置有滑动导轨(10)，所述滑动导轨(10)上设置有可与其相对滑动的移动单元(11)，所述移动单元(11)的下端面上设置有晶粒吸嘴(9)，所述移动单元(11)的上方为机台控制盒(12)，机台控制盒(12)通过连线(16)与移动单元(11)连接。 【当前权利人】强茂电子(无锡)有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市国家高新技术开发区汉江路8号 【专利权人类型】有限责任公司(外商合资) 【统一社会信用代码】913202147168950739

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