【摘要】 本发明提供一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置，方法包括：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。本发明通过测试数据方便迅速的屏蔽测试向量源文件中需要忽略的测试点，提高测试效率，解决现有技术无法迅速有效的对可忽略的报错测试点进行屏蔽的问题。 【专利类型】发明申请 【申请人】无锡中星微电子有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】214028 中国江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦)610 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】江阴市 【申请号】CN201010195435.8 【申请日】2010-05-31 【申请年份】2010 【公开公告号】CN102262205A 【公开公告日】2011-11-30 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN102262205B 【授权公告日】2015-08-26 【授权公告年份】2015.0 【IPC分类号】G01R31/26; G01R31/00; G01R31/28 【发明人】胡伟锋 【主权项内容】一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法，其特征在于，包括如下步骤：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。 ： 【当前权利人】无锡中感微电子股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层 【专利权人类型】股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】913202006925820711 【引证次数】6.0 【被引证次数】2 【他引次数】6.0 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】2

未经允许不得转载：http://www.zhongzhencnc.com/1781916501.html