【摘要】 本实用新型提供了一种对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置。本实用新型的装置包括主控计算机与辅助光路切换模块；所述主控计算机和辅助光路切换模块被设计成板卡形式，相互连接设置在机框内；其中辅助光路切换模块包括光开关控制模块和光开关矩阵模块。本实用新型可以有效利用测试仪器和设备在测试前准备工作与测试后数据处理时的闲置时间，将测试光路在多个同类测试工位中轮流切换，让一套测试仪器和设备能被多个测试工位共同协调使用，提高了测试仪器和设备的使用效率，并且大幅度节省了人工手动操作所消耗的光路切换时间、降低了测试成本。 【专利类型】实用新型 【申请人】东南大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】210044 江苏省无锡市新区菱湖大道99号 【申请人地区】中国 【申请人城市】无锡市 【申请人区县】新吴区 【申请号】CN201020272121.9 【申请日】2010-07-27 【申请年份】2010 【公开公告号】CN201740638U 【公开公告日】2011-02-09 【公开公告年份】2011 【授权公告号】CN201740638U 【授权公告日】2011-02-09 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01M11/02 【发明人】华歆 【主权项内容】一种对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置，其特征在于：包括主控计算机与辅助光路切换模块；所述主控计算机和辅助光路切换模块被设计成板卡形式，相互连接设置在机框内；其中辅助光路切换模块包括光开关控制模块和光开关矩阵模块，其中：光开关控制模块用于和主控计算机进行通信，根据测试需求控制单个或多个光开关矩阵模块；光开关矩阵模块用于实现测试光路按照测试要求进行自动切换的功能。 【当前权利人】东南大学 【当前专利权人地址】江苏省无锡市新区菱湖大道99号 【统一社会信用代码】12100000466006770Q 【被引证次数】1 【被自引次数】1.0 【家族被引证次数】1

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