【摘要】 本发明公开了一扫描系统中电荷耦合元件校正 的方法及其装置，包含设置一校正平板于至少一个电荷耦合元 件之前，校正平板上有至少两个校正图案，以电荷耦合元件扫 描校正图案，将产生的图像的一模拟信号送到一处理器，处理 器将此模拟信号转换为一数字信号，一应用电路，针对此数字 信号产生复数个校正信号，并藉由一显示装置显示校正信号以 校正电荷耦合元件。 【专利类型】发明申请 【申请人】鸿友科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹科学工业园区新竹市研发二路25号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN98100590.X 【申请日】1998-03-02 【申请年份】1998 【公开公告号】CN1228000A 【公开公告日】1999-09-08 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN1154339C 【授权公告日】2004-06-16 【授权公告年份】2004.0 【IPC分类号】H04N1/047 【发明人】蔡振财 【主权项内容】1、一种电荷耦合元件校正装置，用于一扫描系统内，该扫描系统具有至少一个电荷耦 合元件，其特征在于：所述的校正装置至少由一处理器、一应用电路、一校正平板和一显示 装置组成，所述的处理器与电荷耦合元件相连，该电荷耦合元件产生的一模拟信号输入至该 处理器中，由处理器将此模拟信号转换为一数字信号，所述的应用电路相连于所述的处理器 之后，针对上述数字信号产生复数个校正信号，所述的显示装置与该应用电路相连接，以显 示该等复数个校正信号，所述的校正平板置于所述的电荷耦合元件之前。 【当前权利人】宇东光学公司 【当前专利权人地址】美国特拉华州 【被引证次数】3.0 【被自引次数】2.0 【被他引次数】1.0 【家族被引证次数】3.0

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